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高级调制格式信号再生实验研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-19页
    1.1 引言第11-12页
    1.2 高级调制格式的研究意义第12-13页
    1.3 全光再生的研究意义第13-14页
    1.4 国内外研究现状及发展趋势第14-16页
    1.5 论文内容和章节安排第16-19页
第二章 BPSK信号再生原理第19-27页
    2.1 引言第19页
    2.2 相位敏感放大概述第19-21页
    2.3 相位敏感放大原理第21-23页
    2.4 增益轴第23-26页
    2.5 本章小结第26-27页
第三章 BPSK信号相位再生实验系统搭建第27-43页
    3.1 引言第27页
    3.2 调制接收系统的搭建第27-36页
        3.2.1 调制解调系统框图第27-28页
        3.2.2 BPSK信号调制原理第28-31页
        3.2.3 QPSK信号的调制原理及调试步骤第31-32页
        3.2.4 噪声添加原理第32-34页
        3.2.5 信号解调第34-36页
    3.3 BPSK信号相位再生系统搭建第36-41页
        3.3.1 产生合适的泵浦光第37-40页
        3.3.2 实验搭建过程中的关键问题第40-41页
    3.4 本章小结第41-43页
第四章 仿真及实验结果第43-55页
    4.1 引言第43页
    4.2 仿真与初步实验结果分析第43-46页
        4.2.1 仿真中功率比对再生结果的影响第44-45页
        4.2.2 仿真中相位差对再生结果的影响第45页
        4.2.3 仿真与初步实验结果对比第45-46页
    4.3 BPSK信号再生第46-47页
    4.4 QPSK转BPSK第47-50页
        4.4.1 QPSK转BP SK的原理简介第48-49页
        4.4.2 QPSK转BPSK实验结果第49-50页
    4.5 锁相环路系统对实验结果的改善第50-53页
        4.5.1 锁相环原理仿真验证第51-52页
        4.5.2 锁相环路的结构设计第52-53页
    4.6 本章小结第53-55页
第五章 TWDM-PON光模块测试第55-69页
    5.1 光模块测试板设计方案第55-60页
        5.1.1 总体方案设计第55-56页
        5.1.2 电源方案第56页
        5.1.3 FPGA方案第56-57页
        5.1.4 上位机软件第57-58页
        5.1.5 信号源选择方案:第58-59页
        5.1.6 最终效果图第59-60页
    5.2 下行测试(OLT发ONU收)第60-64页
        5.2.1 OLT中心波长、频谱宽度、边模抑制比测试第60-61页
        5.2.2 OLT消光比测试第61-62页
        5.2.3 下行ONU接收灵敏度、过载光功率测试第62-64页
    5.3 上行测试(ONU发OLT收)第64-67页
        5.3.1 ONU中心波长、频谱宽度、边模抑制比测试第64-65页
        5.3.2 ONU消光比测试第65页
        5.3.3 上行OLT接收灵敏度、过载光功率测试第65-67页
    5.4 本章小结第67-69页
第六章 总结与展望第69-72页
    6.1 总结第69-70页
    6.2 下一步的工作展望:第70-72页
        6.2.1 针对调制解调系统第70页
        6.2.2 针对相位再生实验系统第70-72页
参考文献第72-76页
实验仪器清单第76-77页
缩略语第77-78页
致谢第78页

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