摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第12-16页 |
1.1 声光调Q技术简介 | 第12-13页 |
1.2 国内外发展现状 | 第13-14页 |
1.3 本论文主要内容及结构安排 | 第14-16页 |
第二章 声光Q开关驱动器的理论基础 | 第16-37页 |
2.1 声光Q开关驱动器的工作原理 | 第16-18页 |
2.2 声光Q开关驱动器的术语 | 第18-19页 |
2.3 射频功率放大器的基本理论 | 第19-33页 |
2.3.1 射频功率放大器分类 | 第19-21页 |
2.3.1.1 甲类放大器 | 第19-20页 |
2.3.1.2 乙类放大器 | 第20-21页 |
2.3.1.3 甲乙类放大器 | 第21页 |
2.3.1.4 丙类放大器 | 第21页 |
2.3.2 增益和稳定性 | 第21-23页 |
2.3.3 阻抗匹配理论 | 第23-32页 |
2.3.3.1 smith圆图 | 第24-28页 |
2.3.3.2 集总参数匹配网络设计 | 第28-32页 |
2.3.4 偏置电路设计 | 第32页 |
2.3.5 多级放大器设计 | 第32-33页 |
2.4 射频功率放大器的仿真原理 | 第33-36页 |
2.4.1 ADS简介 | 第33-34页 |
2.4.2 ADS常用的仿真器及功能 | 第34页 |
2.4.3 负载牵引设计方法 | 第34-35页 |
2.4.4 射频功率放大器的仿真流程 | 第35-36页 |
2.5 本章小结 | 第36-37页 |
第三章 声光Q开关驱动器设计 | 第37-70页 |
3.1 设计目标 | 第37页 |
3.2 驱动器的设计流程 | 第37页 |
3.3 驱动器的系统框图 | 第37-38页 |
3.4 频率源设计 | 第38-39页 |
3.5 调制电路设计 | 第39-44页 |
3.5.1 调制电路分类 | 第39-41页 |
3.5.1.1 可变增益放大器调制 | 第39-40页 |
3.5.1.2 射频开关调制 | 第40页 |
3.5.1.3 栅极调制 | 第40-41页 |
3.5.1.4 漏极调制 | 第41页 |
3.5.2 驱动器调制电路方案对比 | 第41-42页 |
3.5.3 调制器件选型 | 第42-43页 |
3.5.4 调制电路参数设计 | 第43-44页 |
3.5.5 调制电路结果与分析 | 第44页 |
3.6 放大电路设计 | 第44-62页 |
3.6.1 增益放大电路设计 | 第45-47页 |
3.6.1.1 器件选型 | 第45-46页 |
3.6.1.2 增益放大电路参数设计 | 第46页 |
3.6.1.3 增益放大电路结果与分析 | 第46-47页 |
3.6.2 驱动放大电路设计 | 第47-54页 |
3.6.2.1 器件选型 | 第47-48页 |
3.6.2.2 驱动放大电路仿真设计 | 第48-54页 |
3.6.2.2.1 MW6S004NT1直流仿真设计 | 第48-50页 |
3.6.2.2.2 MW6S004NT1稳定性分析 | 第50页 |
3.6.2.2.3 负载牵引法设计匹配电路 | 第50-54页 |
3.6.3 功率放大电路设计 | 第54-62页 |
3.6.3.1 器件选型 | 第54-55页 |
3.6.3.2 功率放大电路仿真设计 | 第55-62页 |
3.6.3.2.1 MRFE6VP6300H直流仿真设计 | 第55-56页 |
3.6.3.2.2 MRFE6VP6300H稳定性分析 | 第56页 |
3.6.3.2.3 负载牵引法设计匹配电路 | 第56-60页 |
3.6.3.2.4 功率放大电路温度补偿设计 | 第60-62页 |
3.7 保护电路设计 | 第62-64页 |
3.7.1 过压保护 | 第62页 |
3.7.2 过流保护 | 第62-63页 |
3.7.3 温度保护 | 第63页 |
3.7.4 驻波保护 | 第63-64页 |
3.8 驱动器的电磁兼容性设计 | 第64-68页 |
3.8.1 元器件选取 | 第64-65页 |
3.8.2 PCB设计 | 第65-66页 |
3.8.3 滤波设计 | 第66页 |
3.8.4 接地设计 | 第66-67页 |
3.8.4.1 射频电路接地 | 第66页 |
3.8.4.2 功能电路接地 | 第66-67页 |
3.8.4.3 接地设计要求 | 第67页 |
3.8.5 屏蔽设计 | 第67-68页 |
3.9 热设计 | 第68-69页 |
3.10 本章小结 | 第69-70页 |
第四章 大功率声光Q开关驱动器的测试结果与分析 | 第70-76页 |
4.1 主要性能指标测试方法 | 第70-73页 |
4.1.1 脉冲上升、下降时间测试 | 第70-71页 |
4.1.2 输出功率和效率测试 | 第71页 |
4.1.3 首脉冲抑制时间测试 | 第71-72页 |
4.1.4 谐波抑制测试 | 第72页 |
4.1.5 通断比测试 | 第72页 |
4.1.6 电磁兼容测试 | 第72-73页 |
4.2 性能指标测试结果与分析 | 第73-76页 |
第五章 总结与展望 | 第76-77页 |
5.1 本文的主要贡献 | 第76页 |
5.2 下一步工作的展望 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第81-82页 |