| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12页 |
| 1.3 论文的主要内容 | 第12页 |
| 1.4 论文内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 热电偶及其检定原理 | 第14-28页 |
| 2.1 热电偶测温的原理 | 第14-16页 |
| 2.1.1 接触电势 | 第14-15页 |
| 2.1.2 温差电势 | 第15页 |
| 2.1.3 热电势 | 第15-16页 |
| 2.2 热电偶的基本定律 | 第16-17页 |
| 2.2.1 均质导体定律 | 第16页 |
| 2.2.2 中间导体定律 | 第16-17页 |
| 2.2.3 中间温度定律 | 第17页 |
| 2.3 热电偶的种类 | 第17-19页 |
| 2.3.1 标准化热电偶 | 第18页 |
| 2.3.2 贵金属热电偶 | 第18-19页 |
| 2.4 热电偶的误差 | 第19-21页 |
| 2.5 热电偶的检定 | 第21页 |
| 2.6 检定前的准备工作 | 第21-22页 |
| 2.6.1 外观检查 | 第21-22页 |
| 2.6.2 清洗和退火 | 第22页 |
| 2.6.3 捆扎和装炉 | 第22页 |
| 2.7 热电偶的检定方法 | 第22-24页 |
| 2.7.1 检定点的选择 | 第22页 |
| 2.7.2 双极比较法 | 第22-24页 |
| 2.7.3 热电偶检定过程所需时间分析 | 第24页 |
| 2.8 检定结果的处理和检定周期 | 第24-26页 |
| 2.8.1 检定结果的处理 | 第24-25页 |
| 2.8.2 检定周期 | 第25-26页 |
| 2.9 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 热电偶自动检定系统的硬件配置 | 第28-42页 |
| 3.1 系统的总体设计思想 | 第28-33页 |
| 3.1.1 数据采集系统的设计思想 | 第28-31页 |
| 3.1.2 炉温控制系统的设计思想 | 第31-32页 |
| 3.1.3 上位机监控系统的设计思想 | 第32-33页 |
| 3.2 检定系统的硬件选型及工作原理 | 第33-37页 |
| 3.2.1 扫描开关 | 第34页 |
| 3.2.2 数字万用表 | 第34-35页 |
| 3.2.3 6024E数据采集卡 | 第35页 |
| 3.2.4 JKH-C2型可控硅调压器 | 第35-36页 |
| 3.2.5 计算机的配置 | 第36-37页 |
| 3.3 其它电测仪器及配套设备 | 第37-39页 |
| 3.3.1 热电偶检定炉 | 第37页 |
| 3.3.2 保温瓶 | 第37-38页 |
| 3.3.3 其它设备 | 第38-39页 |
| 3.4 数据采集卡的硬件配置 | 第39-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 自动检定系统的软件设计及实现 | 第42-58页 |
| 4.1 软件系统的设计思想 | 第42-43页 |
| 4.1.1 系统开发工具简介 | 第42-43页 |
| 4.2 数据采集程序 | 第43-44页 |
| 4.3 炉温控制程序 | 第44-52页 |
| 4.3.1 炉温控温要求 | 第44页 |
| 4.3.2 普通位置式PID控制 | 第44-47页 |
| 4.3.3 模糊PID控制 | 第47-50页 |
| 4.3.4 模糊控制程序实现 | 第50-52页 |
| 4.4 软件设计的主界面 | 第52-56页 |
| 4.4.1 PID设置 | 第52-53页 |
| 4.4.2 炉温的变化率监控 | 第53-54页 |
| 4.4.3 平均值的计算 | 第54-55页 |
| 4.4.4 检定点的计算公式选择 | 第55页 |
| 4.4.5 检定证书 | 第55-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 软硬件系统调试 | 第58-70页 |
| 5.1 温度控制 | 第58-59页 |
| 5.1.1 普通位置式PID控制 | 第58-59页 |
| 5.1.2 模糊PID控制 | 第59页 |
| 5.2 上位机与硬件的联合调试 | 第59-63页 |
| 5.2.1 准备工作 | 第59-60页 |
| 5.2.2 检定过程 | 第60-63页 |
| 5.3 过程数据的保存 | 第63页 |
| 5.4 Ⅰ级工作用S型热电偶测量结果的不确定度分析 | 第63-68页 |
| 5.4.1 测量过程简述 | 第63-64页 |
| 5.4.2 数学模型 | 第64页 |
| 5.4.3 测量不确定度的来源分析 | 第64-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 6.1 总结 | 第70页 |
| 6.2 展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 附录A：硬件实物图 | 第78-80页 |
| 附加B：攻读学位其间发表论文目录 | 第80页 |