| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-32页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第13-14页 |
| 1.2 过渡金属氧化物 | 第14-20页 |
| 1.2.1 研究进展 | 第14-15页 |
| 1.2.2 过渡金属氧化物的表面缺陷 | 第15-17页 |
| 1.2.3 钙钛矿型过渡金属氧化物及其表面缺陷研究 | 第17-19页 |
| 1.2.4 氧化钛及其表面缺陷的研究 | 第19-20页 |
| 1.3 氧化物的表面改性 | 第20-24页 |
| 1.3.1 改性方法 | 第20页 |
| 1.3.2 低能离子束轰击 | 第20-24页 |
| 1.3.2.1 理论背景 | 第21-22页 |
| 1.3.2.2 低能离子轰击在氧化物表面改性中的应用 | 第22-24页 |
| 1.4 氧化物中的二维电子气体系 | 第24-29页 |
| 1.4.1 二维电子气的电学性质 | 第26页 |
| 1.4.2 二维电子气的自旋输运性质 | 第26-29页 |
| 1.5 选题依据及研究内容 | 第29-32页 |
| 第二章 实验与测试方法 | 第32-44页 |
| 2.1 过渡金属氧化物表面的离子束改性 | 第32-33页 |
| 2.2 表面形貌以及结构测试 | 第33-35页 |
| 2.3 电学性质测试 | 第35-36页 |
| 2.3.1 离子轰击过程的原位监控 | 第35-36页 |
| 2.3.2 霍尔效应测试 | 第36页 |
| 2.4 自旋输运性质测试 | 第36-43页 |
| 2.4.1 测试的基础理论 | 第36-41页 |
| 2.4.1.1 自旋泵浦效应 | 第37-38页 |
| 2.4.1.2 自旋整流效应 | 第38-41页 |
| 2.4.2 短路微带传输线技术 | 第41-42页 |
| 2.4.3 样品的制备与测试 | 第42-43页 |
| 2.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第三章 单晶SrTiO_3的表面离子束改性及性能分析 | 第44-83页 |
| 3.1 离子束改性对单晶SrTiO_3表面结构的影响 | 第44-49页 |
| 3.2 离子束改性对单晶SrTiO_3表面电输运性质的影响 | 第49-52页 |
| 3.3 离子束改性对单晶SrTiO_3表面自旋输运性质的影响 | 第52-81页 |
| 3.3.1 自旋输运的测试与分离方法 | 第53-65页 |
| 3.3.1.1 翻转测试两步法的原理 | 第53-56页 |
| 3.3.1.2 翻转测试两步法的验证 | 第56-65页 |
| 3.3.2 改性SrTiO_3表面的自旋输运性质 | 第65-73页 |
| 3.3.2.1 改性SrTiO_3的IREE电压信号测试 | 第66-70页 |
| 3.3.2.2 改性SrTiO_3的自旋输运参数的计算 | 第70-73页 |
| 3.3.3 掺杂SrTiO_3的自旋输运性质 | 第73-81页 |
| 3.3.3.1 掺杂SrTiO_3的ISHE电压信号测试 | 第74-76页 |
| 3.3.3.2 掺杂SrTiO_3的自旋输运参数的计算 | 第76-79页 |
| 3.3.3.3 掺杂SrTiO_3中ISHE机制的判定 | 第79-81页 |
| 3.4 本章小结 | 第81-83页 |
| 第四章 单晶TiO_2的表面离子束改性及性能分析 | 第83-107页 |
| 4.1 离子束改性对单晶TiO_2表面结构的影响 | 第83-86页 |
| 4.2 离子束改性对单晶TiO_2表面电输运性质的影响 | 第86-88页 |
| 4.3 离子束改性对单晶TiO_2表面自旋输运性质的影响 | 第88-94页 |
| 4.3.1 改性TiO_2的IREE电压信号测试 | 第88-92页 |
| 4.3.2 改性TiO_2的自旋输运参数的计算 | 第92-94页 |
| 4.4 改性SrTiO_3和TiO_2表面性能的对比 | 第94-105页 |
| 4.4.1 离子束改性对表面结构的影响 | 第95-98页 |
| 4.4.2 离子束改性对表面电输运性质的影响 | 第98-101页 |
| 4.4.3 离子束改性对表面自旋输运性质的影响 | 第101-105页 |
| 4.5 本章小结 | 第105-107页 |
| 第五章 非晶TiO_2和Ta_2O_5薄膜的离子束改性及性能分析 | 第107-118页 |
| 5.1 离子束改性对表面结构的影响 | 第107-110页 |
| 5.2 热激放电测试方法 | 第110-113页 |
| 5.2.1 外电路叉指电极的制作 | 第111-112页 |
| 5.2.2 热激放电测试平台 | 第112-113页 |
| 5.3 改性非晶TiO_2和Ta_2O_5薄膜的热激放电测试与分析 | 第113-116页 |
| 5.4 本章小结 | 第116-118页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第118-122页 |
| 6.1 全文结论 | 第118-120页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122-123页 |
| 参考文献 | 第123-139页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第139-140页 |
