便携式通信接口测试仪频谱分析功能设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 缩略词表 | 第15-16页 |
| 主要符号表 | 第16-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第17页 |
| 1.2 研究内容与主要贡献 | 第17-19页 |
| 1.3 论文结构与章节安排 | 第19-20页 |
| 第二章 接口测试仪频谱分析功能技术现状 | 第20-46页 |
| 2.2 现代扫频频谱分析仪基本原理 | 第20-23页 |
| 2.2.1 扫频外差式频谱仪原理 | 第21-22页 |
| 2.2.2 混频器扫频调谐原理 | 第22-23页 |
| 2.3 多速率信号处理技术 | 第23-29页 |
| 2.3.1 整数倍抽取 | 第23-27页 |
| 2.3.2 信号多相分解 | 第27-28页 |
| 2.3.3 多级滤波结构 | 第28-29页 |
| 2.4 数字正交下变频技术 | 第29-32页 |
| 2.4.1 直接数字混频实现 | 第29-30页 |
| 2.4.2 基于CORDIC实现 | 第30-32页 |
| 2.5 抽取滤波器组设计 | 第32-40页 |
| 2.5.1 级联积分梳状滤波器 | 第33-36页 |
| 2.5.2 级联半带滤波器 | 第36-40页 |
| 2.6 离散频谱分析与校正技术 | 第40-45页 |
| 2.6.1 离散频谱分析原理 | 第40-41页 |
| 2.6.2 离散频谱误差分析 | 第41-43页 |
| 2.6.3 离散频谱比值校正法 | 第43-45页 |
| 2.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 接口测试仪频谱分析功能需求分析 | 第46-53页 |
| 3.1 测试对象分析 | 第46-48页 |
| 3.1.1 被测设备及接口配置 | 第46-47页 |
| 3.1.2 被测设备连接关系 | 第47-48页 |
| 3.2 测试模型分析 | 第48-50页 |
| 3.2.1 单接口测试模型 | 第48-49页 |
| 3.2.2 双接口测试模型 | 第49-50页 |
| 3.3 功能需求分析 | 第50-52页 |
| 3.3.1 接口报文检测需求 | 第50-51页 |
| 3.3.2 频谱分析与显示需求 | 第51-52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 接口测试仪频谱分析功能总体方案设计 | 第53-75页 |
| 4.1 硬件平台介绍 | 第53-55页 |
| 4.1.1 硬件整体架构 | 第53-54页 |
| 4.1.2 关键器件介绍 | 第54-55页 |
| 4.2 算法设计方案 | 第55-64页 |
| 4.2.1 频谱分析算法方案 | 第55-60页 |
| 4.2.2 仿真与结果分析 | 第60-64页 |
| 4.3 系统实现方案 | 第64-67页 |
| 4.3.1 FPGA报文测试子系统 | 第64-65页 |
| 4.3.2 FPGA频谱分析子系统 | 第65-66页 |
| 4.3.3 频谱显示界面程序 | 第66-67页 |
| 4.4 FPGA与OMAP通信协议 | 第67-74页 |
| 4.4.1 串行通信协议 | 第67-71页 |
| 4.4.2 并行通信协议 | 第71-74页 |
| 4.5 本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 接口测试仪频谱分析功能详细设计 | 第75-106页 |
| 5.1 时钟规划及时钟模块实现 | 第75-76页 |
| 5.2 接口模块部分FPGA实现 | 第76-87页 |
| 5.2.1 解帧组帧模块 | 第76-81页 |
| 5.2.2 串口及电台口模块 | 第81-82页 |
| 5.2.3 二线口模块 | 第82-86页 |
| 5.2.4 GPMC接口模块 | 第86-87页 |
| 5.3 正交下变频部分FPGA实现 | 第87-95页 |
| 5.3.1 正交下变频模块 | 第88-90页 |
| 5.3.2 CIC抽取滤波模块 | 第90-92页 |
| 5.3.3 半带抽取滤波模块 | 第92-95页 |
| 5.4 幅值谱计算部分FPGA实现 | 第95-103页 |
| 5.4.1 加窗及数据提速模块 | 第96-98页 |
| 5.4.2 快速傅里叶变换模块 | 第98-100页 |
| 5.4.3 幅值谱计算模块 | 第100-103页 |
| 5.5 频谱显示界面程序实现 | 第103-105页 |
| 5.5.1 频谱计算与校正模块 | 第104页 |
| 5.5.2 频谱显示与设置模块 | 第104-105页 |
| 5.6 本章小结 | 第105-106页 |
| 第六章 系统测试与结果分析 | 第106-119页 |
| 6.1 接口测试仪介绍 | 第106-107页 |
| 6.2 FPGA外围接口测试 | 第107-112页 |
| 6.2.1 ADC接口测试 | 第108页 |
| 6.2.2 串口及电台口测试 | 第108-109页 |
| 6.2.3 二线口测试 | 第109-111页 |
| 6.2.4 串行通信接口测试 | 第111-112页 |
| 6.2.5 GPMC接口测试 | 第112页 |
| 6.3 频谱分析功能模块测试 | 第112-117页 |
| 6.4 频谱分析性能测试 | 第117-118页 |
| 6.5 测试结果及其分析 | 第118页 |
| 6.6 本章小结 | 第118-119页 |
| 第七章 结束语 | 第119-121页 |
| 7.1 本文总结及主要贡献 | 第119页 |
| 7.2 下一步工作的建议 | 第119-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-124页 |
| 个人简历 | 第124-125页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第125-126页 |
| 修改说明 | 第126页 |
