| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第11-14页 |
| 1.2 国内外关于APPT实验研究现状 | 第14-17页 |
| 1.2.1 国外关于APPT实验研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.2 国内关于APPT研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 国内外针对PPT的光谱特性研究现状 | 第17-19页 |
| 1.3.1 国外PPT光谱技术研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3.2 国内PPT光谱技术研究现状 | 第18-19页 |
| 第2章 双脉冲等离子体推进器光谱测试系统及实验设计 | 第19-36页 |
| 2.1 双脉冲等离子体推进器光谱测试系统的搭建 | 第19-23页 |
| 2.1.1 真空系统 | 第19-21页 |
| 2.1.2 电控系统 | 第21-22页 |
| 2.1.3 双脉冲等离子体推进器系统 | 第22-23页 |
| 2.2 光谱测试试验方案 | 第23-28页 |
| 2.2.1 试验系统搭建 | 第23-25页 |
| 2.2.2 光谱仪 | 第25-27页 |
| 2.2.3 步进定位装置 | 第27-28页 |
| 2.3 试验方法 | 第28-32页 |
| 2.3.1 初始定位 | 第28-29页 |
| 2.3.2 时间基准选择 | 第29-30页 |
| 2.3.3 光强标定 | 第30-31页 |
| 2.3.4 取样电阻选择 | 第31-32页 |
| 2.4 实验流程及部分结果 | 第32-35页 |
| 2.4.1 测试位置选择 | 第32页 |
| 2.4.2 试验条件和测试内容 | 第32-33页 |
| 2.4.3 实验的流程 | 第33-34页 |
| 2.4.4 实验所得的部分结果展示 | 第34-35页 |
| 2.5 小结 | 第35-36页 |
| 第3章 基于发射光谱法的等离子体计算方法研究 | 第36-42页 |
| 3.1 等离子体光谱产生机理 | 第36-37页 |
| 3.2 发射光谱的展宽效应 | 第37-39页 |
| 3.2.1 自然展宽 | 第37-38页 |
| 3.2.2 压力展宽 | 第38页 |
| 3.2.3 多普勒展宽 | 第38-39页 |
| 3.3 等离子体参量计算方法 | 第39-41页 |
| 3.3.1 电子温度 | 第39-40页 |
| 3.3.2 电子密度 | 第40-41页 |
| 3.4 小结 | 第41-42页 |
| 第4章 PPT放电光谱特性测试结果和分析 | 第42-68页 |
| 4.1 计算算例 | 第42-45页 |
| 4.1.1 温度计算 | 第42-44页 |
| 4.1.2 密度计算 | 第44-45页 |
| 4.2 同一位置不同放电电压下的光谱变化 | 第45-55页 |
| 4.2.1 21 位置在不同电压下的光谱变化分析 | 第45-48页 |
| 4.2.2 22 位置在不同电压下的光谱变化分析 | 第48-50页 |
| 4.2.3 23 位置在不同电压下的光谱变化分析 | 第50-51页 |
| 4.2.4 24 位置在不同电压下的光谱变化分析 | 第51-53页 |
| 4.2.5 25 位置在不同电压下的光谱变化分析 | 第53-55页 |
| 4.3 同一电压不同位置的光谱变化 | 第55-61页 |
| 4.3.1 1060v、475v下不同位置的光谱变化分析 | 第55-58页 |
| 4.3.2 1300v、335v下不同位置的光谱变化分析 | 第58-60页 |
| 4.3.3 1500v、0v下不同位置的光谱变化分析 | 第60-61页 |
| 4.4 电子温度变化 | 第61-63页 |
| 4.5 电子密度变化 | 第63-66页 |
| 4.6 两对极板之间等离子体损失率与电压的关系 | 第66-67页 |
| 4.7 小结 | 第67-68页 |
| 第5章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 附表 | 第76-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
