摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.2.1 应用发展现状 | 第11-12页 |
1.2.2 自动化测试技术研究现状 | 第12-13页 |
1.3 主要工作 | 第13页 |
1.4 论文的结构安排 | 第13-16页 |
第二章 相关理论和技术基础 | 第16-24页 |
2.1 ANDROID应用程序及其相关组件 | 第16-18页 |
2.1.1 ANDROID系统介绍 | 第16-17页 |
2.1.2 相关组件介绍 | 第17-18页 |
2.2 ANDROID自动化测试介绍 | 第18-20页 |
2.2.1 ANDROID自动化测试原理 | 第18-19页 |
2.2.2 ANDROID测试类介绍 | 第19-20页 |
2.3 ANDROID ADB工具 | 第20-21页 |
2.4 自动化测试工具ROBOTIUM | 第21-24页 |
2.4.1 ROBOTIUM简介 | 第21页 |
2.4.2 原理介绍 | 第21-22页 |
2.4.3 ROBOTIUM主要API介绍 | 第22-24页 |
第三章 需求分析以及整体设计 | 第24-40页 |
3.1 自动化测试框架的需求分析 | 第24-26页 |
3.1.1 业务需求分析 | 第24-25页 |
3.1.2 功能及非功能需求分析 | 第25-26页 |
3.2 自动化测试框架整体设计 | 第26-28页 |
3.2.1 总体架构 | 第26-27页 |
3.2.2 模块简介 | 第27-28页 |
3.3 详细设计 | 第28-39页 |
3.3.1 预处理模块设计 | 第28-29页 |
3.3.2 遍历模块设计 | 第29-32页 |
3.3.3 性能测试模块设计 | 第32-38页 |
3.3.4 数据收集处理模块设计 | 第38-39页 |
3.4 总结 | 第39-40页 |
第四章 自动化测试框架的实现 | 第40-64页 |
4.1 预处理模块的实现 | 第40-41页 |
4.1.1 连接设备方法 | 第40页 |
4.1.2 UI元素定位方法 | 第40-41页 |
4.2 遍历模块的实现 | 第41-50页 |
4.2.1 关键路径遍历模式 | 第41-45页 |
4.2.2 概率路径遍历模式 | 第45-47页 |
4.2.3 全概率路径遍历模式 | 第47-50页 |
4.3 性能测试模块的实现 | 第50-58页 |
4.3.1 电量检测工具实现 | 第50-51页 |
4.3.2 内存泄漏检测功能实现 | 第51-53页 |
4.3.3 CRASH及卡顿检测功能实现 | 第53-56页 |
4.3.4 流畅度分析功能实现 | 第56-58页 |
4.4 信息处理模块的实现 | 第58-63页 |
4.4.1 COLLECTOR部分实现 | 第58-59页 |
4.4.2 COMMON部分实现 | 第59-60页 |
4.4.3 ENGINE和PERFORMANCE部分实现 | 第60-62页 |
4.4.4 SERVICE部分实现 | 第62-63页 |
4.5 总结 | 第63-64页 |
第五章 自动化测试框架实施与分析 | 第64-74页 |
5.1 自动化测试框架实施过程 | 第64-67页 |
5.1.1 分析待测应用UI元素 | 第64页 |
5.1.2 配置开发环境 | 第64-65页 |
5.1.3 构建测试工程 | 第65-66页 |
5.1.4 编写测试用例 | 第66页 |
5.1.5 执行测试 | 第66-67页 |
5.2 自动化测试框架测试结果分析 | 第67-73页 |
5.2.1 遍历测试结果 | 第67-69页 |
5.2.2 性能测试结果 | 第69-72页 |
5.2.3 CRASH日志分析 | 第72-73页 |
5.3 总结 | 第73-74页 |
第六章 结束语 | 第74-76页 |
6.1 文章总结 | 第74-75页 |
6.2 下一步的研究方向 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-79页 |
致谢 | 第79页 |