| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 简介 | 第10-14页 |
| 第二章 基于电子碰撞方法的振子强度测量 | 第14-26页 |
| 2.1 快电子碰撞方法的基本原理 | 第14-15页 |
| 2.2 微分散射截面、广义振子强度和光学振子强度 | 第15-18页 |
| 2.3 电子能量损失谱仪的基本结构和工作原理 | 第18-20页 |
| 2.4 氮分子a"~1∑_g~+(v'=0)和a"~1∑_g~+(v'=1)+b~1Π_u(v'=0)的广义振子强度测量 | 第20-23页 |
| 2.5 电子能量损失符合谱仪的基本原理及其时序设计 | 第23-26页 |
| 2.5.1 电子能量损失符合谱仪的基本原理 | 第23-24页 |
| 2.5.2 电子能量损失符合谱仪的时序设计 | 第24-26页 |
| 第三章 基于光吸收方法测量振子强度的实验探索 | 第26-44页 |
| 3.1 光吸收方法的基本原理 | 第26-27页 |
| 3.2 线饱和效应 | 第27-31页 |
| 3.3 氢分子价壳层激发能区光学振子强度测量的实验探索 | 第31-39页 |
| 3.3.1 合肥国家同步辐射实验室原子分子线站的光源性能 | 第31-33页 |
| 3.3.2 实验方法 | 第33-34页 |
| 3.3.3 实验过程及结果讨论 | 第34-39页 |
| 3.4 双荧光法测量光学振子强度的基本原理 | 第39-44页 |
| 第四章 总结与展望 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 致谢 | 第50-52页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第52页 |
