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用于线宽测量的双探针原子力显微镜系统研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 课题研究背景第10页
    1.2 线宽测量的研究现状第10-15页
        1.2.1 光学显微镜第11页
        1.2.2 扫描电子显微镜第11-12页
        1.2.3 原子力显微镜第12-15页
    1.3 课题意义与主要工作第15-16页
第二章 双探针原子力显微镜测量原理第16-27页
    2.1 自感应音叉探针第16-20页
        2.1.1 自感应音叉探针工作原理第16-17页
        2.1.2 自感应音叉探针的力学模型第17-19页
        2.1.3 自感应音叉探针的电学模型第19-20页
    2.2 原子力显微镜第20-23页
        2.2.1 原子力显微镜的基本原理第20-21页
        2.2.2 动态原子力显微镜的工作模式第21-23页
    2.3 双探针原子力显微镜测量原理第23-24页
    2.4 双探针对针方案第24-26页
        2.4.1 视觉对准第24-25页
        2.4.2 近场力对准第25-26页
    2.5 本章小结第26-27页
第三章 测量系统搭建第27-53页
    3.1 双探针测量装置第27-32页
        3.1.1 视觉观测模块第28页
        3.1.2 锁相放大器第28-30页
        3.1.3 三维位移系统第30页
        3.1.4 激光干涉仪第30-32页
    3.2 单探针测量系统第32-41页
        3.2.1 探针夹持机构设计第32-33页
        3.2.2 探针信号提取电路设计第33-35页
        3.2.3 激光干涉仪系统设计第35-37页
        3.2.4 数字反馈电路设计第37-41页
    3.3 测量系统软件构成第41-52页
        3.3.1 锁相放大器控制软件第41-42页
        3.3.2 纳米位移台控制软件第42-43页
        3.3.3 RPI20细分卡接口电路软件设计第43-46页
        3.3.4 数字反馈电路软件设计第46-52页
            3.3.4.1 DSP端程序设计第47-49页
            3.3.4.2 FPGA端程序设计第49-52页
    3.4 本章小结第52-53页
第四章 系统测试及实验第53-76页
    4.1 双探针实验装置第53-54页
    4.2 RPI20细分卡接口电路性能测试第54-57页
        4.2.1 VME总线读数测试第54-55页
        4.2.2 等位移判断触发输出测试第55-57页
    4.3 数字反馈电路性能测试第57-60页
        4.3.1 ADC与DAC测试第57-58页
        4.3.2 PI反馈测试第58-59页
        4.3.3 串口测试第59-60页
    4.4 测头性能测试第60-67页
        4.4.1 调幅模式下测头灵敏度及分辨力测试第61-62页
        4.4.2 调频模式下测头灵敏度及分辨力测试第62-64页
        4.4.3 调相模式下有无幅度控制测头灵敏度对比及分辨力测试第64-67页
    4.5 栅格测量第67-69页
        4.5.1 调幅模式下栅格测量实验第67-68页
        4.5.2 调频模式下栅格测量实验第68页
        4.5.3 调相模式下栅格测量实验第68-69页
    4.6 双探针对针实验第69-75页
        4.6.1 视觉对针第69页
        4.6.2 近场力对针第69-75页
            4.6.2.1 调幅模式第70-73页
            4.6.2.2 调频模式第73-75页
    4.7 本章小结第75-76页
第五章 总结和展望第76-78页
参考文献第78-81页
发表论文和参加科研情况说明第81-82页
致谢第82-83页

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