嵌入式硬件测试平台及其硬件识别系统的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 嵌入式测试平台的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 硬件识别技术的研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 论文的研究内容与结构 | 第17-19页 |
| 1.3.1 论文研究的内容 | 第17-18页 |
| 1.3.2 论文研究的预期成果 | 第18页 |
| 1.3.3 论文的结构与安排 | 第18-19页 |
| 第二章 自动化测试系统的总体设计 | 第19-38页 |
| 2.1 自动化测试系统框架设计 | 第19-25页 |
| 2.1.1 自动化测试系统结构总览 | 第19-21页 |
| 2.1.2 自动化测试系统的运作流程 | 第21-22页 |
| 2.1.3 自动化测试系统相关的技术分析 | 第22-25页 |
| 2.2 测试平台的硬件结构 | 第25-36页 |
| 2.2.1 嵌入式自测试平台的硬件结构 | 第25-26页 |
| 2.2.2 目前成熟的计算机硬件自测试技术分析 | 第26-31页 |
| 2.2.2.1 微型计算机BIOS自检技术 | 第26-28页 |
| 2.2.2.2 UEFI固件接.技术 | 第28-29页 |
| 2.2.2.3 系统级硬件测试技术 | 第29-31页 |
| 2.2.3 测试平台硬件结构设计 | 第31-33页 |
| 2.2.3.1 应用于测试平台的技术方案 | 第31-32页 |
| 2.2.3.2 测试平台电路结构 | 第32-33页 |
| 2.2.4 硬件测试系统简介 | 第33-36页 |
| 2.2.4.1 硬件测试系统的技术原理 | 第33-34页 |
| 2.2.4.2 硬件测试系统结构 | 第34-35页 |
| 2.2.4.3 硬件测试流程 | 第35-36页 |
| 2.3 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 硬件识别系统设计 | 第38-64页 |
| 3.1 识别系统的应用方向分析 | 第38-39页 |
| 3.2 识别技术分析 | 第39-44页 |
| 3.2.1 识别控制器 | 第39-40页 |
| 3.2.2 识别总线 | 第40-42页 |
| 3.2.3 数据包策略 | 第42-44页 |
| 3.3 识别方案设计 | 第44-50页 |
| 3.3.1 识别系统框架设计 | 第44页 |
| 3.3.2 识别控制流程设计 | 第44-45页 |
| 3.3.3 识别控制指令设计 | 第45-46页 |
| 3.3.4 硬件ID编码设计 | 第46-50页 |
| 3.3.4.1 编码格式 | 第47页 |
| 3.3.4.2 消息的同步与验证 | 第47-48页 |
| 3.3.4.3 编码标准设计 | 第48-50页 |
| 3.4 硬件识别电路设计 | 第50-63页 |
| 3.4.1 硬件识别控制器的处理核心选型 | 第50-52页 |
| 3.4.1.1 处理核心的需求分析与选型 | 第50-51页 |
| 3.4.1.2 组合逻辑电路适用芯片分析与选型 | 第51-52页 |
| 3.4.2 识别电路模块设计 | 第52-61页 |
| 3.4.2.1 硬件识别控制器电路模块规划 | 第52-53页 |
| 3.4.2.2 串口收发模块设计 | 第53-55页 |
| 3.4.2.3 识别控制模块设计 | 第55-56页 |
| 3.4.2.4 硬件端识别数据输出电路设计 | 第56-58页 |
| 3.4.2.5 识别数据采集模块设计 | 第58-59页 |
| 3.4.2.6 数据上传控制模块设计 | 第59-61页 |
| 3.4.3 电路整体设计 | 第61-63页 |
| 3.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第四章 硬件识别系统的有效性试验 | 第64-70页 |
| 4.1 试验平台 | 第64页 |
| 4.2 基本功能的仿真试验 | 第64-65页 |
| 4.3 工作模式指令的仿真试验 | 第65-68页 |
| 4.4 重发模式指令的仿真试验 | 第68-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 总结与展望 | 第70-71页 |
| 5.1 总结 | 第70页 |
| 5.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 附件 | 第74页 |
