摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
1.1 选题的背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第10-12页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第12页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第12-14页 |
第2章 屏蔽电缆计算模型的理论基础 | 第14-26页 |
2.1 多导体传输线分析 | 第14-17页 |
2.1.1 多导体传输线方程 | 第14-15页 |
2.1.2 多导体传输线的频域分析 | 第15-16页 |
2.1.3 终端条件 | 第16-17页 |
2.2 电磁骚扰对屏蔽电缆耦合机理的研究 | 第17-22页 |
2.2.1 屏蔽电缆的转移阻抗 | 第17-21页 |
2.2.2 耦合机理 | 第21-22页 |
2.3 屏蔽电缆分布参数的计算 | 第22-25页 |
2.3.1 分布参数的求解方法 | 第22-23页 |
2.3.2 KVVP2-22屏蔽电缆的分布参数 | 第23-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
第3章 直线放置的二次电缆屏蔽层分散接地对芯线电压的影响 | 第26-36页 |
3.2 TEV对屏蔽电缆骚扰的计算模型的建立 | 第26-29页 |
3.2.1 激励源作用于二次电缆屏蔽层构成的传输线系统 | 第26-27页 |
3.2.2 屏蔽层电流到芯线电压的转移 | 第27-28页 |
3.2.3 屏蔽电缆的接地方式 | 第28-29页 |
3.3 计算结果的分析 | 第29-32页 |
3.3.2 采用接地排作为大地的情况 | 第29-30页 |
3.3.3 采用接地网作为大地的情况 | 第30-32页 |
3.4 二次电缆屏蔽层分散接地对电磁骚扰抑制效果的试验验证 | 第32-35页 |
3.4.1 试验设备 | 第33页 |
3.4.2 试验布置与测量内容 | 第33-34页 |
3.4.3 试验结果 | 第34-35页 |
3.5 本章小结 | 第35-36页 |
第4章 智能组件电磁骚扰抑制措施的研究 | 第36-56页 |
4.1 总体原则 | 第36页 |
4.2 变电站内智能电子装置所受传导电磁骚扰分析 | 第36-39页 |
4.2.1 TEV波形及频率成分分析 | 第36-38页 |
4.2.2 智能电子设备端与传感器端的骚扰电压 | 第38-39页 |
4.3 电缆屏蔽层分散接地对智能组件所受电磁骚扰的抑制效果 | 第39-51页 |
4.3.1 仿真模型的建立 | 第40-43页 |
4.3.2 仿真结果的分析 | 第43-51页 |
4.4 限幅措施的采用及性能测试 | 第51-54页 |
4.4.1 概述 | 第51页 |
4.4.2 抑制浪涌器件的特性 | 第51-52页 |
4.4.3 试验 | 第52-54页 |
4.5 本章小结 | 第54-56页 |
第5章 智能组件合并单元的抗扰度测试 | 第56-64页 |
5.1 合并单元的抗扰度测试及失效分析 | 第56-57页 |
5.2 浪涌试验 | 第57-60页 |
5.2.1 测试标准 | 第57-59页 |
5.2.2 合并单元的浪涌抗扰度测试 | 第59-60页 |
5.3 电快速瞬变脉冲群抗扰度测试 | 第60-62页 |
5.3.1 测试标准 | 第60-62页 |
5.3.2 合并单元的电快速脉冲脉冲群抗扰度测试 | 第62页 |
5.4 其它电磁兼容试验 | 第62-63页 |
5.5 本章小结 | 第63-64页 |
第6章 结论 | 第64-65页 |
6.1 结论 | 第64页 |
6.2 展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及参加科研情况 | 第70-71页 |
致谢 | 第71页 |