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纳米电子系统的容缺陷设计方法研究

摘要第1-8页
ABSTRACT第8-16页
第1章 绪论第16-32页
   ·研究背景第16-17页
   ·CMOS的尺度极限第17-18页
   ·新兴的纳米电子学第18-23页
     ·纳米电子器件技术第19-21页
     ·纳米电子结构技术第21-23页
   ·纳米电子系统设计面临的挑战第23-24页
   ·国内外研究现状第24-28页
   ·本文的主要工作内容和组织安排第28-30页
   ·本章小结第30-32页
第2章 应用相关的容缺陷设计第32-50页
   ·Crossbar结构的二部图模型第32-34页
   ·Crossbar结构的容缺陷能力第34-35页
   ·容缺陷逻辑映射算法综述第35-41页
     ·输入项预先固定的贪婪映射算法第35-37页
     ·基于搜索树的递归映射算法第37-40页
     ·基于优先匹配的贪婪映射算法第40-41页
   ·基于多样性机制的容缺陷逻辑映射算法第41-45页
   ·DTLM的覆盖率优化模型第45-49页
     ·新的覆盖率优化模型第45-46页
     ·基于GA的覆盖率优化算法第46-47页
     ·覆盖率优化仿真结果第47-49页
   ·本章小结第49-50页
第3章 一种基于MA和适应度近似的DTLM算法第50-72页
   ·DTLM问题的模型与定义第50-52页
   ·优化问题的建模和评估第52-55页
     ·DTLM的搜索空间第52-53页
     ·Ford-Fulkerson方法第53页
     ·优化模型第53-54页
     ·优化问题特性第54-55页
   ·MA/FA算法第55-61页
     ·MA/FA算法框架第55-57页
     ·贪婪重分配局部搜索第57-58页
     ·MBM导向的适应度评估第58-59页
     ·MBM导向的适应度近似第59-60页
     ·近似匹配的准确性评估第60-61页
   ·实验结果和分析第61-70页
     ·基准测试问题第61-62页
     ·算法参数设置第62-63页
     ·算法性能比较第63-65页
     ·贪婪重分配和适应度近似的有效性分析第65-70页
   ·本章小结第70-72页
第4章 应用独立的容缺陷设计第72-84页
   ·应用独立的容缺陷设计流程第72-75页
   ·问题描述和定义第75-76页
   ·无缺陷子结构存在概率P_(exist)的下边界估计第76-79页
     ·基本思想第76页
     ·当k_1=2时第76-77页
     ·当k_1=n>2时第77-78页
     ·实验验证第78-79页
   ·无缺陷子结构存在概率P_(exist)的上边界估计第79-82页
     ·期望第79页
     ·基本思想第79-80页
     ·上边界估计第80-81页
     ·实验验证第81页
     ·P_(exist)上下界仿真第81-82页
   ·本章小结第82-84页
第5章 一种快速无缺陷子结构提取算法第84-100页
   ·问题模型和定义第84-86页
   ·贪婪提取算法第86-89页
     ·贪婪无缺陷子结构提取算法第86-87页
     ·改进的贪婪无缺陷子结构提取算法第87-89页
   ·快速无缺陷子结构提取算法第89-93页
     ·低时间复杂度提取算法第89-91页
     ·快速提取算法第91-93页
   ·实验结果和分析第93-98页
     ·提取的无缺陷子结构尺寸比较第93-95页
     ·运行时间比较第95-96页
     ·快速算法的实验分析第96-97页
     ·对实验结果的讨论第97-98页
   ·本章小结第98-100页
第6章 一种基于EA和结构变异的无缺陷子结构提取算法第100-120页
   ·MBBP问题概述第100-101页
   ·MBBP问题定义第101-102页
   ·EA/SM算法第102-110页
     ·个体编码和适应度第103页
     ·EA/SM算法框架第103-105页
     ·结构变异(Structure Mutation-SM)第105-106页
     ·快速局部搜索第106-107页
     ·修复辅助的重启第107-108页
     ·重启的概率模型第108页
     ·改进的Marchiori启发式修复算子第108-110页
   ·实验结果和分析第110-118页
     ·与启发式算法的比较分析第110-112页
     ·结构变异和修复辅助的重启的有效性实验分析第112-114页
     ·与其它基于修复的EA的比较分析第114-116页
     ·在基准测试图上的统计意义比较第116-118页
   ·本章小结第118-120页
第7章 总结与展望第120-124页
   ·全文总结第120-121页
   ·未来研究展望第121-124页
参考文献第124-132页
致谢第132-134页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第134-135页

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