摘要 | 第1-8页 |
ABSTRACT | 第8-16页 |
第1章 绪论 | 第16-32页 |
·研究背景 | 第16-17页 |
·CMOS的尺度极限 | 第17-18页 |
·新兴的纳米电子学 | 第18-23页 |
·纳米电子器件技术 | 第19-21页 |
·纳米电子结构技术 | 第21-23页 |
·纳米电子系统设计面临的挑战 | 第23-24页 |
·国内外研究现状 | 第24-28页 |
·本文的主要工作内容和组织安排 | 第28-30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
第2章 应用相关的容缺陷设计 | 第32-50页 |
·Crossbar结构的二部图模型 | 第32-34页 |
·Crossbar结构的容缺陷能力 | 第34-35页 |
·容缺陷逻辑映射算法综述 | 第35-41页 |
·输入项预先固定的贪婪映射算法 | 第35-37页 |
·基于搜索树的递归映射算法 | 第37-40页 |
·基于优先匹配的贪婪映射算法 | 第40-41页 |
·基于多样性机制的容缺陷逻辑映射算法 | 第41-45页 |
·DTLM的覆盖率优化模型 | 第45-49页 |
·新的覆盖率优化模型 | 第45-46页 |
·基于GA的覆盖率优化算法 | 第46-47页 |
·覆盖率优化仿真结果 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第3章 一种基于MA和适应度近似的DTLM算法 | 第50-72页 |
·DTLM问题的模型与定义 | 第50-52页 |
·优化问题的建模和评估 | 第52-55页 |
·DTLM的搜索空间 | 第52-53页 |
·Ford-Fulkerson方法 | 第53页 |
·优化模型 | 第53-54页 |
·优化问题特性 | 第54-55页 |
·MA/FA算法 | 第55-61页 |
·MA/FA算法框架 | 第55-57页 |
·贪婪重分配局部搜索 | 第57-58页 |
·MBM导向的适应度评估 | 第58-59页 |
·MBM导向的适应度近似 | 第59-60页 |
·近似匹配的准确性评估 | 第60-61页 |
·实验结果和分析 | 第61-70页 |
·基准测试问题 | 第61-62页 |
·算法参数设置 | 第62-63页 |
·算法性能比较 | 第63-65页 |
·贪婪重分配和适应度近似的有效性分析 | 第65-70页 |
·本章小结 | 第70-72页 |
第4章 应用独立的容缺陷设计 | 第72-84页 |
·应用独立的容缺陷设计流程 | 第72-75页 |
·问题描述和定义 | 第75-76页 |
·无缺陷子结构存在概率P_(exist)的下边界估计 | 第76-79页 |
·基本思想 | 第76页 |
·当k_1=2时 | 第76-77页 |
·当k_1=n>2时 | 第77-78页 |
·实验验证 | 第78-79页 |
·无缺陷子结构存在概率P_(exist)的上边界估计 | 第79-82页 |
·期望 | 第79页 |
·基本思想 | 第79-80页 |
·上边界估计 | 第80-81页 |
·实验验证 | 第81页 |
·P_(exist)上下界仿真 | 第81-82页 |
·本章小结 | 第82-84页 |
第5章 一种快速无缺陷子结构提取算法 | 第84-100页 |
·问题模型和定义 | 第84-86页 |
·贪婪提取算法 | 第86-89页 |
·贪婪无缺陷子结构提取算法 | 第86-87页 |
·改进的贪婪无缺陷子结构提取算法 | 第87-89页 |
·快速无缺陷子结构提取算法 | 第89-93页 |
·低时间复杂度提取算法 | 第89-91页 |
·快速提取算法 | 第91-93页 |
·实验结果和分析 | 第93-98页 |
·提取的无缺陷子结构尺寸比较 | 第93-95页 |
·运行时间比较 | 第95-96页 |
·快速算法的实验分析 | 第96-97页 |
·对实验结果的讨论 | 第97-98页 |
·本章小结 | 第98-100页 |
第6章 一种基于EA和结构变异的无缺陷子结构提取算法 | 第100-120页 |
·MBBP问题概述 | 第100-101页 |
·MBBP问题定义 | 第101-102页 |
·EA/SM算法 | 第102-110页 |
·个体编码和适应度 | 第103页 |
·EA/SM算法框架 | 第103-105页 |
·结构变异(Structure Mutation-SM) | 第105-106页 |
·快速局部搜索 | 第106-107页 |
·修复辅助的重启 | 第107-108页 |
·重启的概率模型 | 第108页 |
·改进的Marchiori启发式修复算子 | 第108-110页 |
·实验结果和分析 | 第110-118页 |
·与启发式算法的比较分析 | 第110-112页 |
·结构变异和修复辅助的重启的有效性实验分析 | 第112-114页 |
·与其它基于修复的EA的比较分析 | 第114-116页 |
·在基准测试图上的统计意义比较 | 第116-118页 |
·本章小结 | 第118-120页 |
第7章 总结与展望 | 第120-124页 |
·全文总结 | 第120-121页 |
·未来研究展望 | 第121-124页 |
参考文献 | 第124-132页 |
致谢 | 第132-134页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第134-135页 |