| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第7-16页 |
| ·半导体存储器 | 第7-11页 |
| ·相变存储器 | 第11-14页 |
| ·本文的研究目的及主要内容 | 第14-16页 |
| 2 1Gb 相变存储器功能芯片外围电路设计 | 第16-38页 |
| ·相变存储器芯片的整体结构 | 第16-17页 |
| ·电路设计 | 第17-29页 |
| ·版图设计及其后仿真 | 第29-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 3 相变存储器存储单元寄生效应测试方法 | 第38-47页 |
| ·相变存储器相变存储元件皮秒测试系统 | 第38-40页 |
| ·相变存储器参数的测量方法 | 第40-44页 |
| ·相变存储器存储单元寄生效应的测试 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 4 相变存储器存储单元寄生效应的测试结果与分析 | 第47-61页 |
| ·相变存储器存储单元寄生效应的测试结果 | 第47-52页 |
| ·相变存储器存储单元寄生效应的测试结果分析 | 第52-55页 |
| ·相变存储器存储单元寄生效应的应用 | 第55-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 5 总结与展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录1 攻读学位期间发表论文和申请专利情况 | 第69页 |