VLSI老化预测与抗老化技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 引言 | 第13-23页 |
| ·相关背景 | 第13-19页 |
| ·集成电路可靠性研究背景 | 第13-14页 |
| ·老化对集成电路可靠性的挑战 | 第14-15页 |
| ·引起老化的负面效应 | 第15-19页 |
| ·老化问题研究现状 | 第19-21页 |
| ·国外研究现状 | 第19-20页 |
| ·国内研究现状 | 第20-21页 |
| ·本文的主要工作 | 第21页 |
| ·论文的组织结构 | 第21-23页 |
| 第二章 相关工作的基础 | 第23-35页 |
| ·老化机制分析 | 第23-30页 |
| ·NBTI 效应的两类机制 | 第23-26页 |
| ·NBTI 效应的模型 | 第26-27页 |
| ·考虑最坏占空比的 NBTI 效应预测 | 第27-30页 |
| ·在线电路老化检测与预测 | 第30-33页 |
| ·在线老化检测 | 第30-31页 |
| ·在线老化预测 | 第31-33页 |
| ·Hspice 仿真工具 | 第33-35页 |
| 第三章 一种高速老化故障预测传感器 | 第35-47页 |
| ·老化的在线感知的原理 | 第35-36页 |
| ·时序电路老化过程 | 第35页 |
| ·在线预测的优 | 第35-36页 |
| ·老化预测策略 | 第36-40页 |
| ·检测高速电路老化的自锁老化传感器 | 第40-45页 |
| ·SC 工作时序分析 | 第40-42页 |
| ·HOSAS 结构 | 第42-44页 |
| ·实验与对比 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 一种高速统一故障检测策略 | 第47-55页 |
| ·SV 统一故障模型 | 第47-49页 |
| ·目标故障类型 | 第47页 |
| ·故障信号模型 | 第47-49页 |
| ·统一故障检测策略 | 第49-52页 |
| ·统一故障检测的时序约束 | 第49-50页 |
| ·统一故障检测的电路实现 | 第50-52页 |
| ·高速信号违规检测结构 | 第52-53页 |
| ·仿真与对比 | 第53-54页 |
| ·故障仿真验证 | 第53-54页 |
| ·与其它方案的比较 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 结论与展望 | 第55-56页 |
| ·论文总结 | 第55页 |
| ·下一步工作展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第61-62页 |
