X光强力输送带无损检测系统探测器的研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 1 绪论 | 第11-14页 |
| ·强力输送带无损检测的研究现状 | 第11-13页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第13页 |
| ·课题研究的内容 | 第13-14页 |
| 2 X 光强力输送带无损检测系统设计方案 | 第14-24页 |
| ·无损检测法 | 第14-17页 |
| ·系统组成及工作原理 | 第17-22页 |
| ·X 射线源 | 第18-19页 |
| ·X 光探测卡 | 第19-20页 |
| ·图像采集板 | 第20-21页 |
| ·图像传输控制板 | 第21-22页 |
| ·基于FPGA+ARM 的探测器设计方案 | 第22-24页 |
| 3 基于FPGA+ARM 的探测器硬件设计 | 第24-60页 |
| ·ADC 硬件电路设计 | 第24-33页 |
| ·电压跟随电路 | 第24-25页 |
| ·A/D 转换电路 | 第25-29页 |
| ·信号驱动电路设计 | 第29-31页 |
| ·ADC 时序控制 | 第31-33页 |
| ·FPGA 模块及其外围电路设计 | 第33-42页 |
| ·FPGA 基本原理与特点 | 第33-34页 |
| ·FPGA 的设计流程 | 第34-36页 |
| ·FPGA 芯片选择 | 第36页 |
| ·FPGA 外部时钟电路 | 第36-37页 |
| ·SPI FLASH 接口电路 | 第37-39页 |
| ·DDR SDRAM 接口电路 | 第39-41页 |
| ·串口通信接口电路 | 第41-42页 |
| ·ARM 模块及外围电路设计 | 第42-53页 |
| ·ARM 体系结构及芯片选择 | 第42-44页 |
| ·FLASH 芯片及其接口电路 | 第44-45页 |
| ·SDRAM 芯片及接口电路 | 第45-46页 |
| ·JTAG 调试口 | 第46-47页 |
| ·复位电路 | 第47-48页 |
| ·串口通信接口电路 | 第48-49页 |
| ·总线驱动电路 | 第49页 |
| ·USB Host/Device 接口电路 | 第49-50页 |
| ·以太网网络接口 | 第50-53页 |
| ·电源电路设计 | 第53-57页 |
| ·模拟电源设计 | 第54-56页 |
| ·数字电源设计 | 第56-57页 |
| ·抗干扰设计 | 第57-58页 |
| ·电源与地线的抗干扰设计 | 第57页 |
| ·去耦电容 | 第57-58页 |
| ·FPGA 与ARM 处理器的互联设计 | 第58-60页 |
| 4 X 光探测器的软件设计 | 第60-77页 |
| ·探测器软件设计方案 | 第60-61页 |
| ·ARM 模块程序设计 | 第61-70页 |
| ·ADS 开发平台 | 第61-64页 |
| ·ARM 主程序设计 | 第64-65页 |
| ·以太网驱动及UDP 协议设计 | 第65-70页 |
| ·FPGA 模块程序开发设计 | 第70-77页 |
| ·ISE 工程设计流程 | 第70-72页 |
| ·图像的非均匀性校正 | 第72-76页 |
| ·两点非均匀性校正的FPGA 实现 | 第76-77页 |
| 5 仿真与调试 | 第77-80页 |
| ·硬件电路的实验与调试 | 第77-79页 |
| ·网络通信调试 | 第79-80页 |
| 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 作者简历 | 第83-85页 |
| 学位论文数据集 | 第85-86页 |
