| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-19页 |
| 1、研究背景 | 第10-15页 |
| ·、模拟电路单元模块的行为级建模算法发展现状 | 第12-13页 |
| ·、工艺偏差下的电路仿真算法发展现状 | 第13-15页 |
| 2、本文的研究内容和主要贡献 | 第15-17页 |
| ·、基于SGWD逼近的模拟电路单元模块行为级建模方法 | 第15页 |
| ·、一次性投影降阶算法(One-shot Projection Method,OPM) | 第15-16页 |
| ·、随机稀疏网格配置法(Stochastic Sparse-grid Collocation Algorithm,SSCA) | 第16-17页 |
| 3、本文的组织结构 | 第17-19页 |
| 第一部分 模拟电路单元模块的行为级建模方法 | 第19-43页 |
| 第二章 模拟电路单元行为级建模方法回顾 | 第20-31页 |
| 1、构造法(Constructive Approaches) | 第20-24页 |
| ·、简化物理模型方法 | 第21-22页 |
| ·、符号分析方法(Symbolic Analysis Techniques) | 第22-24页 |
| 2、数值逼近方法(Fitting Approaches) | 第24-30页 |
| ·、多项式逼近算法 | 第25-26页 |
| ·、小波配置方法(Wavelets Collocation Method) | 第26-30页 |
| ·、自适应小波算法 | 第27-28页 |
| ·、非线性压扩小波算法 | 第28-30页 |
| 3、本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于SGWD逼近的模拟电路行为级建模方法 | 第31-43页 |
| 1、香农小波和SGWD小波基本理论 | 第31-36页 |
| ·、经典香农小波基函数和SGWD小波基函数 | 第32-33页 |
| ·、经典香农小波基逼近和SGWD小波基逼近的边界误差 | 第33-36页 |
| 2、边界逼近误差降低技术 | 第36-40页 |
| ·、周期性展开算法 | 第36-39页 |
| ·、偶对称映射算法 | 第39-40页 |
| 3、数值实例 | 第40-42页 |
| ·、周期性展开算法的建模结果 | 第40-41页 |
| ·、偶对称映射算法的建模结果 | 第41-42页 |
| 4、本章小结 | 第42-43页 |
| 第二部分 工艺偏差下的电路快速仿真算法 | 第43-115页 |
| 第四章 工艺偏差下的电路仿真算法回顾 | 第44-76页 |
| 1、日益严重的工艺偏差 | 第44-47页 |
| 2、工艺偏差对电路性能的影响 | 第47-50页 |
| 3、工艺偏差下的电路快速仿真算法 | 第50-75页 |
| ·、固定工艺参数下的电路仿真算法回顾 | 第50-54页 |
| ·、互连线模型降阶算法 | 第51-53页 |
| ·、非线性电路仿真算法 | 第53-54页 |
| ·、工艺偏差下的电路仿真算法研究 | 第54-75页 |
| ·、工艺偏差下的电路仿真问题定义 | 第55-56页 |
| ·、基于泰勒展开的带参数降阶算法 | 第56-62页 |
| ·、扰动法 | 第56-60页 |
| ·、其他泰勒展开类算法 | 第60-62页 |
| ·、随机谱方法(Stochastic Spectral Method,SSM) | 第62-75页 |
| ·、试探函数(trial function)与检验函数(test function) | 第62-65页 |
| ·、随机Galerkin算法(Stochastic Galerkin Method) | 第65-67页 |
| ·、随机配置法(Stochastic Collocation Method) | 第67-75页 |
| 1、门延迟建模流程 | 第68-69页 |
| 2、随机配置点的选取 | 第69-75页 |
| (1) 一维高斯积分及配置点的选取 | 第69-70页 |
| (2) 直接张量积法(Direct Tensor Scheme) | 第70-73页 |
| (3) ECM(Efficient Collocation Method)采点方法 | 第73-75页 |
| 4、本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 工艺偏差下的互连系统一次性投影降阶算法 | 第76-90页 |
| 1、工艺偏差下的互连电路降阶问题定义 | 第76-77页 |
| 2、扰动法回顾 | 第77-78页 |
| 3、OPM算法基本原理 | 第78-81页 |
| ·、全投影矩阵(full projection matrix)的构成 | 第78-79页 |
| ·、压缩投影矩阵(condensed projection matrix)的建立 | 第79-80页 |
| ·、降阶系统的建立 | 第80-81页 |
| 4、OPM算法算法流程 | 第81-82页 |
| 5、复杂度分析 | 第82-83页 |
| 6、数值实验 | 第83-89页 |
| ·、BUS线频域传递函数 | 第84-88页 |
| ·、求解精度比较 | 第84-87页 |
| ·、计算复杂度比较 | 第87-88页 |
| ·、BUS线50%时延比较 | 第88-89页 |
| 7、本章小结 | 第89-90页 |
| 第六章 工艺偏差下非线性电路稳态分析方法——随机稀疏网格配置法 | 第90-113页 |
| 1、工艺偏差下的非线性电路稳态分析问题定义 | 第90-91页 |
| 2、随机谱方法在非线性电路稳态分析中的应用 | 第91-92页 |
| 3、随机Galerkin方法 | 第92-95页 |
| ·、随机Galerkin方法的应用 | 第93-94页 |
| ·、随机Galerkin方法的局限性 | 第94-95页 |
| 4、随机配置法 | 第95-98页 |
| 5、稀疏网格采点技术(Sparse-grid technique) | 第98-100页 |
| ·、稀疏网格采点技术基本原理 | 第98-100页 |
| ·、稀疏网格采点技术在随机配置法中的应用 | 第100页 |
| 6、计算复杂度分析 | 第100-101页 |
| 7、数值结果 | 第101-111页 |
| ·、整流滤波电路 | 第101-107页 |
| ·、随机配置法与泰勒展开算法的比较 | 第102-103页 |
| ·、三种采点技术的比较 | 第103-107页 |
| ·、简单MOS管放大器 | 第107-111页 |
| ·、随机配置法与随机Galerkin方法的比较 | 第108-110页 |
| ·、三种采点技术的比较 | 第110-111页 |
| 8、本章小结 | 第111-113页 |
| 第七章 总结和展望 | 第113-115页 |
| 1、全文总结 | 第113-114页 |
| 2、对未来工作的展望 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-124页 |
| 已发表或录用文章列表 | 第124-126页 |
| 致谢 | 第126-127页 |
