| 摘要 | 第1-11页 |
| Abstract | 第11-14页 |
| 第一章 引言 | 第14-36页 |
| ·原子力显微镜(AFM)的基本原理 | 第14-15页 |
| ·扫描极化力显微镜(SPFM) | 第15-18页 |
| ·装置和原理 | 第15-17页 |
| ·应用 | 第17-18页 |
| ·静电力显微镜(EFM) | 第18-22页 |
| ·原理 | 第18-20页 |
| ·EFM在DNA分子导电性能测量上的应用 | 第20-22页 |
| ·DNA的样品制备 | 第22-27页 |
| ·在氨基化的云母表面 | 第23页 |
| ·在金属阳离子修饰的云母表面 | 第23-25页 |
| ·盐晶体表面的吸附 | 第25-26页 |
| ·在导电衬底上DNA的固定 | 第26-27页 |
| ·DNA的高度测量 | 第27-30页 |
| ·不同条件下的测量结果 | 第27-28页 |
| ·引起DNA变形原因的推测 | 第28-30页 |
| ·弹性测量 | 第30-33页 |
| ·力曲线方法 | 第30-33页 |
| ·通过逐步减小振幅来增大针尖的作用力，得到不同的形变量 | 第33页 |
| ·本实验研究的目的 | 第33-36页 |
| 第二章 材料和方法 | 第36-44页 |
| ·试剂和仪器 | 第36-37页 |
| ·试剂 | 第36页 |
| ·仪器 | 第36-37页 |
| ·样品制备 | 第37-39页 |
| ·DNA的衬底制备 | 第37页 |
| ·DNA的样品制备 | 第37-39页 |
| ·蛋白质的样品制备 | 第39页 |
| ·胶体金颗粒样品的制备 | 第39页 |
| ·振动模式扫描极化力显微镜(VSPFM)的装置 | 第39-41页 |
| ·用VSPFM测量衬底上样品的高度 | 第41-44页 |
| ·改变A_(sp)来改变针尖的高度 | 第41-42页 |
| ·Lift模式下改变针尖的高度 | 第42-44页 |
| 第三章 实验结果 | 第44-62页 |
| ·DNA拉伸效果与速度的关系 | 第44-47页 |
| ·在Au衬底上制备DNA样品 | 第47-48页 |
| ·不同的实验参数对VSPFM成像的影响 | 第48-51页 |
| ·驱动频率(drive frequency)的影响 | 第48-49页 |
| ·直流和交流偏压的影响 | 第49-50页 |
| ·偏压频率的影响 | 第50-51页 |
| ·偏压大小的影响 | 第51页 |
| ·A_(sp)设置的影响 | 第51页 |
| ·高度测量的结果 | 第51-60页 |
| ·胶体金颗粒 | 第51-53页 |
| ·蛋白质分子 | 第53-54页 |
| ·DNA分子 | 第54-60页 |
| ·DNA弹性的初步测定 | 第60-62页 |
| 第四章 讨论 | 第62-66页 |
| ·VSPFM试验中实验参数的选择 | 第62页 |
| ·引起高度变化的原因-针尖压力 | 第62-64页 |
| ·柔软样品变形的其他因素 | 第64-65页 |
| ·介电常数的影响 | 第65-66页 |
| 第五章 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-79页 |
| 专利-1 | 第79-86页 |
| 专利-2 | 第86-94页 |
| 博士期间相关论文和专利 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95页 |