锡膏印刷质量检测中的光栅控制及三维测量技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| Contents | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·本课题的研究背景及其研究意义 | 第13-14页 |
| ·锡膏检测设备的国内外现状 | 第14-15页 |
| ·本文研究内容 | 第15-16页 |
| ·本文章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 锡膏三维测量原理及关键技术 | 第18-25页 |
| ·锡膏三维测量的发展 | 第18-19页 |
| ·激光三角测量法 | 第19-21页 |
| ·直射式结构 | 第19-20页 |
| ·斜射式结构 | 第20-21页 |
| ·相位测量轮廓术 | 第21-23页 |
| ·系统结构及关键技术 | 第23-25页 |
| 第三章 光栅移相控制和镜头分配 | 第25-34页 |
| ·光栅移相控制 | 第25-29页 |
| ·光栅移相实验系统 | 第25-26页 |
| ·压电陶瓷定位精度校正 | 第26-29页 |
| ·镜头分配 | 第29-34页 |
| ·按角选择法 | 第30-31页 |
| ·按边选择法 | 第31-32页 |
| ·密度法 | 第32页 |
| ·随机滑动FOV法 | 第32-34页 |
| 第四章 相位展开算法研究 | 第34-51页 |
| ·相位展开问题 | 第34-35页 |
| ·相位展开的数学描述 | 第35-39页 |
| ·一维包裹相位的相位展开 | 第35-36页 |
| ·二维包裹相位的相位展开 | 第36-37页 |
| ·基本原理相位展开方法 | 第37-39页 |
| ·传统的其它相位展开算法 | 第39-44页 |
| ·质量图导向法 | 第39-42页 |
| ·最小二乘法 | 第42-44页 |
| ·三种相位展开算法的性能比较 | 第44-47页 |
| ·抗噪声能力比较 | 第44-45页 |
| ·相位展开图比较 | 第45-46页 |
| ·消耗时间 | 第46-47页 |
| ·结合二维图像信息的相位展开方法 | 第47-51页 |
| ·图像的分割识别 | 第47-48页 |
| ·相位展开 | 第48-49页 |
| ·相位展开实验 | 第49-51页 |
| 第五章 相位-高度映射关系研究 | 第51-60页 |
| ·基于光路结构的相位-高度映射关系 | 第51-56页 |
| ·摄像机数学模型 | 第51-52页 |
| ·投影系统数学模型 | 第52-53页 |
| ·相位-高度映射关系 | 第53-56页 |
| ·PMP三维面形相位高度映射关系 | 第56-60页 |
| ·远心投影PMP高度测量原理 | 第56-57页 |
| ·发散投影PMP高度测量原理 | 第57-58页 |
| ·隐式相位-高度映射关系 | 第58-60页 |
| 第六章 实验结果及其分析 | 第60-67页 |
| ·实验装置 | 第60页 |
| ·实验及数据分析 | 第60-67页 |
| ·实验一 | 第60-64页 |
| ·实验二 | 第64-66页 |
| ·实验分析 | 第66-67页 |
| 总结与展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
