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应用于集成电路形式化验证的SAT算法研究

摘要第1-3页
Abstract第3-6页
第一章 绪论第6-14页
   ·研究背景及意义第6-7页
   ·集成电路设计验证综述第7-12页
     ·模拟验证方法第7-8页
     ·形式验证方法第8-12页
   ·论文的主要工作和章节组织第12-13页
     ·论文的主要工作第12页
     ·章节组织及内容第12-13页
   ·本章小结第13-14页
第二章 集成电路的等价性验证第14-18页
   ·电路等价性检验方法第14-15页
   ·集成电路等价性验证的一个简单例子第15-17页
   ·本章小结第17-18页
第三章 可满足性问题第18-24页
   ·布尔可满足性问题第18-19页
   ·电路中布尔可满足性问题的应用第19-22页
     ·布尔代数第19-20页
     ·集合与布尔函数第20-21页
     ·电路中布尔可满足性的应用第21-22页
   ·可满足性问题算法第22-23页
   ·本章小结第23-24页
第四章 DPLL算法及其相关基础知识第24-33页
   ·二叉判决图第24-25页
   ·DPLL算法第25-27页
   ·蕴含图(IG,IMPLICATION GRAPH)及基于冲突的学习过程第27-31页
   ·决策变量选择策略第31-32页
   ·本章小结第32-33页
第五章 基于高级正向推理的可满足性问题解决器第33-38页
   ·对称扩展一元推导预处理第33-35页
   ·动态筛选算法第35-36页
     ·FLD算法第35-36页
     ·动态筛选算法第36页
   ·高级正向推理的可满足性问题解决器第36-37页
   ·本章小结第37-38页
第六章 实验结果及分析第38-41页
   ·比较性实验与实验分析第38-40页
   ·实验结论第40-41页
总结第41-43页
致谢第43-44页
参考文献第44-47页
附录第47-49页
攻读硕士学位期间研究成果第49-50页

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