超声测厚中的声时信号处理技术研究
| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 1 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 课题背景和意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-12页 |
| 1.2.1 超声测厚技术的研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.2 超声测厚中声时计算的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.3 表面粗糙度对超声测厚影响的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 课题来源及论文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第12页 |
| 1.3.2 论文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 超声测厚中的自适应声时计算方法 | 第14-29页 |
| 2.1 自适应声时计算原理 | 第14-17页 |
| 2.1.1 TOF自适应计算模型 | 第14-16页 |
| 2.1.2 LMS自适应算法 | 第16-17页 |
| 2.1.3 变步长自适应算法 | 第17页 |
| 2.2 改进的自适应声时计算方法 | 第17-21页 |
| 2.2.1 改进的变步长自适应算法 | 第17-19页 |
| 2.2.2 脉冲响应序列的三次样条曲线拟合 | 第19-21页 |
| 2.3 超声声时计算仿真实验 | 第21-24页 |
| 2.4 超声测厚实验 | 第24-28页 |
| 2.4.1 实验系统 | 第24-25页 |
| 2.4.2 实验结果 | 第25-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 工件表面粗糙度对声时信号的影响研究 | 第29-40页 |
| 3.1 超声信号在粗糙界面散射的衰减模型 | 第29-34页 |
| 3.1.1 粗糙表面表征参数 | 第29-30页 |
| 3.1.2 基尔霍夫近似和相屏近似理论 | 第30-33页 |
| 3.1.3 总体平均 | 第33-34页 |
| 3.2 粗糙度样件测厚实验 | 第34-39页 |
| 3.2.1 实验粗糙度样件 | 第34-37页 |
| 3.2.2 超声信号衰减实验结果 | 第37-38页 |
| 3.2.3 粗糙度对声时计算精度的影响与分析 | 第38-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 4 超声在机自动测厚软件系统与实验 | 第40-53页 |
| 4.1 虚拟仪器技术 | 第40-42页 |
| 4.1.1 Labview概述 | 第40-41页 |
| 4.1.2 USB总线技术 | 第41-42页 |
| 4.2 软件系统设计 | 第42-46页 |
| 4.2.1 超声回波自动截取方法 | 第42-45页 |
| 4.2.2 界面设计 | 第45-46页 |
| 4.3 超声在机扫描测厚实验 | 第46-51页 |
| 4.3.1 实验系统 | 第46-48页 |
| 4.3.2 扫描测厚结果 | 第48-50页 |
| 4.3.3 超声测厚精度分析 | 第50-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 5 结论与展望 | 第53-54页 |
| 5.1 论文完成的主要工作 | 第53页 |
| 5.2 存在问题和进一步的改进工作 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
