| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 课题背景及目的和意义 | 第10-13页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 课题目标及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 课题国内外研究概况 | 第13-20页 |
| 1.2.1 智能优化算法研究概述 | 第13-14页 |
| 1.2.2 差分进化算法研究现状与展望 | 第14-18页 |
| 1.2.3 2.5 维集成电路可测性设计研究进展 | 第18-20页 |
| 1.3 本文主要研究内容及结构 | 第20-22页 |
| 1.3.1 论文研究思路 | 第20页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第20-22页 |
| 第2章 基于多角度搜寻旋转交叉策略的自适应差分进化算法 | 第22-47页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 标准差分进化算法 | 第22-25页 |
| 2.3 算法改进动机 | 第25-27页 |
| 2.4 参数自适应改进机制 | 第27页 |
| 2.5 多角度搜寻旋转交叉策略原理及实现 | 第27-35页 |
| 2.5.1 算法原理及实现 | 第27-32页 |
| 2.5.2 国际标准测试集 | 第32-34页 |
| 2.5.3 仿真实验及分析 | 第34-35页 |
| 2.6 实验验证及分析 | 第35-46页 |
| 2.6.1 经典差分进化算法结合旋转交叉策略对比实验 | 第35-39页 |
| 2.6.2 与先进算法交叉策略对比实验 | 第39-40页 |
| 2.6.3 先进改进差分进化算法结合旋转交叉策略对比实验 | 第40-41页 |
| 2.6.4 结合旋转交叉策略的改进算法与其他先进算法对比 | 第41-44页 |
| 2.6.5 旋转控制参数合理取值范围实验及分析 | 第44-46页 |
| 2.7 本章小结 | 第46-47页 |
| 第3章 基于动态子种群划分自适应变异策略的差分进化算法 | 第47-66页 |
| 3.1 引言 | 第47页 |
| 3.2 算法改进动机 | 第47-48页 |
| 3.3 近邻传播聚类算法 | 第48-51页 |
| 3.3.1 常用聚类方法 | 第48-49页 |
| 3.3.2 AP聚类算法信息传播机制 | 第49-51页 |
| 3.4 带局部增强算子的自适应变异策略 | 第51-54页 |
| 3.4.1 自适应搜索步进调整 | 第51-52页 |
| 3.4.2 全新变异策略 | 第52-54页 |
| 3.5 实验验证及分析 | 第54-62页 |
| 3.5.1 经典差分进化算法结合改进变异策略对比实验 | 第54-58页 |
| 3.5.2 先进差分进化算法结合改进策略对比实验 | 第58-62页 |
| 3.6 基于改进变异及交叉策略的改进算法 | 第62-65页 |
| 3.7 本章小结 | 第65-66页 |
| 第4章 芯核级及系统级测试优化技术研究 | 第66-82页 |
| 4.1 引言 | 第66-68页 |
| 4.2 2.5 维SOC芯核级测试时间优化方法 | 第68-72页 |
| 4.2.1 ITC’02标准测试集介绍 | 第68-69页 |
| 4.2.2 2.5 维IP核封装扫描链平衡模型 | 第69-71页 |
| 4.2.3 基于改进差分进化算法的测试封装扫描链平衡方法 | 第71-72页 |
| 4.3 测试封装扫描链平衡方法实验与结果分析 | 第72-74页 |
| 4.3.1 实验环境 | 第72页 |
| 4.3.2 实验结果 | 第72-74页 |
| 4.3.3 结果分析 | 第74页 |
| 4.4 2.5 维集成电路系统级测试调度方法 | 第74-78页 |
| 4.4.1 系统级测试调度数学模型 | 第74-77页 |
| 4.4.2 基于改进差分进化算法的系统级测试调度算法 | 第77-78页 |
| 4.5 系统级测试调度方法实验与结果分析 | 第78-81页 |
| 4.5.1 实验环境与实验结果 | 第78-81页 |
| 4.5.2 实验结果分析 | 第81页 |
| 4.6 本章小结 | 第81-82页 |
| 结论 | 第82-85页 |
| 参考文献 | 第85-91页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
