特高压盆式绝缘子裂纹缺陷放电研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 课题背景及研究目的意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-16页 |
| 1.2.1 常见GIS缺陷类型总结 | 第11-12页 |
| 1.2.2 常见GIS缺陷检测方法 | 第12-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.4 本章小结 | 第17-18页 |
| 第2章 特高压盆式绝缘子电场分布特性 | 第18-36页 |
| 2.1 电场有限元分析方法 | 第18-22页 |
| 2.2 Ansys电场有限元分析模型的建立 | 第22-25页 |
| 2.3 无缺陷绝缘子电场分布特性 | 第25-30页 |
| 2.3.1 1100kV盆式绝缘子电场分布 | 第26-27页 |
| 2.3.2 550kV盆式绝缘子电场分布 | 第27-28页 |
| 2.3.3 252kV盆式绝缘子电场强度分析 | 第28-30页 |
| 2.4 裂纹缺陷绝缘子电场分析 | 第30-35页 |
| 2.4.1 不同位置裂纹缺陷电场分析 | 第30-32页 |
| 2.4.2 不同厚度裂纹缺陷电场分析 | 第32-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 试验平台设计及模型制作 | 第36-45页 |
| 3.1 平台及模型设计思路 | 第36-39页 |
| 3.1.1 SF6和环氧树脂两种媒质特性 | 第36-37页 |
| 3.1.2 环氧树脂及固化剂选取 | 第37-39页 |
| 3.2 模型及试验平台设计 | 第39-44页 |
| 3.2.1 绝缘子模型设计 | 第39-41页 |
| 3.2.2 绝缘子模型加工制作 | 第41-42页 |
| 3.2.3 试验平台设计 | 第42-44页 |
| 3.3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 绝缘子裂纹放电试验 | 第45-54页 |
| 4.1 随机裂纹试验 | 第46页 |
| 4.2 微小裂纹试验 | 第46-47页 |
| 4.3 严重裂纹缺陷 | 第47-52页 |
| 4.3.1 特高频法试验现象 | 第48-50页 |
| 4.3.2 常规脉冲电流法试验现象 | 第50-52页 |
| 4.4 试验结论 | 第52-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 结论与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
