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同位素示踪法研究氧化物半导体中点缺陷的能量学特性

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-20页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 In_2O_3的基本性质第11-13页
    1.3 In_2O_3中本征点缺陷的研究现状第13-15页
    1.4 ZnO和MgZnO的基本性质第15-17页
    1.5 ZnO中点缺陷的研究现状及其施主掺杂问题第17-18页
    1.6 本论文的研究内容第18-20页
第2章 实验方法及原理介绍第20-34页
    2.1 射频等离子体辅助分子束外延(rf-MBE)系统第20-24页
        2.1.1 MBE源炉第21-22页
        2.1.2 射频等离子体源第22-23页
        2.1.3 反射式高能电子衍射仪(RHEED)第23-24页
    2.2 二次离子质谱(SIMS)第24-27页
        2.2.1 工作原理第25-26页
        2.2.2 定量分析第26-27页
    2.3 变温霍尔测试(TDH)第27-29页
    2.4 光致发光(PL)光谱和时间分辨光致发光(TRPL)光谱第29-32页
        2.4.1 光致发光(PL)光谱第29-31页
        2.4.2 时间分辨光致发光(TRPL)光谱第31-32页
    2.5 其他表征手段第32-34页
第3章 In_2O_3单晶薄膜的生长及其氧空位的能量学特性研究第34-49页
    3.1 引言第34-35页
    3.2 In_2O_3单晶薄膜的外延生长第35-40页
        3.2.1 YSZ(100)衬底上In_2O_3单晶薄膜的外延生长第36-39页
        3.2.2 α-Al_2O_3 (0001)衬底上In_2O_3单晶薄膜的外延生长第39-40页
    3.3 In_2O_3中氧空位的能量学特性第40-47页
        3.3.1 氧空位对In_2O_3中氧自扩散行为的影响第40-45页
        3.3.2 In_2O_3中的氧空位缺陷态第45-47页
    3.4 小结第47-49页
第4章 稼掺杂ZnO中受主复合缺陷的研究第49-75页
    4.1 引言第49-50页
    4.2 镓掺杂ZnO中受主复合缺陷的鉴别第50-62页
        4.2.1 镓掺杂ZnO中缺陷的锌同位素自扩散研究第50-58页
        4.2.2 Ga_(Zn)-V_(Zn)复合缺陷的能量学特性及相关电性补偿研究第58-62页
    4.3 镓掺杂ZnO中(Ga_(Zn)-V_(Zn))-复合缺陷的光动力学研究第62-65页
    4.4 关于镓掺杂ZnO中缺陷-表面等离子体耦合的研究第65-74页
        4.4.1 表面沉积银纳米球的镓掺杂ZnO样品的制备第66-67页
        4.4.2 镓掺杂ZnO中缺陷与银纳米球的表面等离子体耦合第67-74页
    4.5 小结第74-75页
第5章 MgZnO中氧空位的能量学特性研究第75-84页
    5.1 引言第75-76页
    5.2 不同极性和Mg组分的纤锌矿相MgZnO单晶薄膜的外延生长第76-78页
    5.3 纤锌矿相MgZnO单晶薄膜中氧自扩散的实验研究第78-82页
        5.3.1 Mg组分对MgZnO中氧空位点缺陷能量学特性的影响第78-81页
        5.3.2 薄膜极性对MgZnO中氧空位点缺陷能量学特性的影响第81-82页
    5.4 小结第82-84页
第6章 总结与展望第84-86页
参考文献第86-95页
个人简历及发表文章目录第95-97页
致谢第97-98页

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