目录 | 第2-4页 |
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 导论 | 第6-18页 |
1. 引言 | 第6-8页 |
2. 电池分类及电气特性简介 | 第8-12页 |
1) 镍氢电池 | 第8页 |
2) 锂电池 | 第8-9页 |
3) 铅酸电池 | 第9-12页 |
3. 现行电量检测方案的介绍及比较 | 第12-16页 |
4. 基于RRAM查找表与计数器的电量检测方案简介 | 第16-17页 |
5. 论文的组织架构 | 第17-18页 |
第二章 电池电量检测系统架构 | 第18-27页 |
1. 芯片架构 | 第18-19页 |
2. 系统典型应用结构 | 第19-20页 |
3. 系统工作原理与流程 | 第20-22页 |
4. 数字系统框架概述 | 第22-23页 |
5. 数字频率生成器的系统需求 | 第23-25页 |
6. 各模块SPEC需求 | 第25-27页 |
第三章 ADC设计 | 第27-45页 |
1. ADC简介 | 第27-30页 |
2. ADC电路设计 | 第30-37页 |
1) 比较器设计 | 第30-33页 |
2) RC-DAC | 第33-35页 |
3) 数字算法部分 | 第35-36页 |
4) MUX输入电路 | 第36-37页 |
5) Debug电路设计 | 第37页 |
3. ADC版图设计 | 第37-38页 |
4. ADC电路仿真 | 第38-42页 |
1) 比较器仿真 | 第38-39页 |
2) 总体仿真 | 第39-40页 |
3) 静态特性仿真 | 第40-41页 |
4) 动态特性 | 第41页 |
5) 功耗仿真 | 第41-42页 |
5. ADC测试结果 | 第42-45页 |
第四章 存储器及温度传感器 | 第45-61页 |
1. RRAM简介 | 第45-48页 |
2. 4k~*4b RRAM架构 | 第48-50页 |
3. RRAM修复方案 | 第50-57页 |
4. 查找表组织架构 | 第57-58页 |
5. 温度传感器设计 | 第58-61页 |
第五章 数字系统设计 | 第61-72页 |
1. 整体结构 | 第61页 |
2. 系统流程控制 | 第61-64页 |
3. ADC接口控制模块 | 第64-66页 |
4. Memory控制接口 | 第66-68页 |
5. 频率合成计 | 第68-69页 |
6. 电量计数计 | 第69-72页 |
第六章 芯片测试 | 第72-81页 |
1. 整体测试方案 | 第72-74页 |
2. ADC控制模块测试 | 第74-76页 |
3. 存储器控制模块测试 | 第76页 |
4. 频率生成器测试 | 第76-78页 |
5. 系统测试 | 第78-81页 |
第七章 总结与展望 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-84页 |
致谢 | 第84-85页 |