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抗错误攻击的AES密码电路研究与验证

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 绪论第11-17页
    1.1 课题研究背景及意义第11-12页
    1.2 错误攻击的研究现状第12-14页
    1.3 抗错误攻击AES密码电路的研究现状第14-16页
        1.3.1 基于校验码的防御措施第14-15页
        1.3.2 基于感染机制的防御措施第15-16页
    1.4 论文主要工作及章节安排第16-17页
第二章 抗错误攻击AES密码电路问题分析及研究思路第17-24页
    2.1 抗错误攻击AES密码电路总体研究思路第17-18页
    2.2 错误攻击仿真平台研究思路第18-19页
        2.2.1 错误攻击问题分析第18页
        2.2.2 错误攻击仿真平台设计思路第18-19页
    2.3 抗错误攻击研究思路第19-22页
        2.3.1 AES抗错误攻击问题分析第19-20页
        2.3.2 感染机制研究思路第20-22页
        2.3.3 容错S盒研究思路第22页
    2.4 本章小结第22-24页
第三章 错误攻击仿真平台的研究与设计第24-37页
    3.1 错误攻击仿真平台总体设计第24-30页
        3.1.1 AES加/解密电路的设计第24-27页
        3.1.2 错误攻击模块的设计第27-30页
    3.2 实验与分析第30-36页
        3.2.1 功能模块的仿真验证第30-32页
        3.2.2 差分错误攻击实例验证第32-36页
    3.3 本章小结第36-37页
第四章 基于随机掩码感染策略的设计第37-45页
    4.1 抗错误攻击感染机制的研究第37-39页
        4.1.1 感染机制原理分析第37-38页
        4.1.2 随机化策略的必要性分析第38-39页
    4.2 基于随机掩码感染策略的设计第39-41页
        4.2.1 抗双错误攻击设计第39-40页
        4.2.2 扩散函数随机化设计第40页
        4.2.3 感染策略的设计第40-41页
    4.3 实验与分析第41-44页
        4.3.1 抗双错误的验证与分析第42页
        4.3.2 扩散函数随机性的验证与分析第42-44页
    4.4 本章小结第44-45页
第五章 基于演化硬件的容错S盒设计第45-57页
    5.1 演化硬件设计与研究第45-49页
        5.1.1 演化硬件的总体架构设计第45-46页
        5.1.2 遗传算法模块的设计第46-48页
        5.1.3 适应度评估模块的设计第48-49页
    5.2 容错S盒设计第49-53页
        5.2.1 S盒简介第50-51页
        5.2.2 容错S盒电路的结构设计第51-53页
    5.3 实验与分析第53-56页
        5.3.1 演化硬件的功能验证第53-54页
        5.3.2 容错S盒功能验证第54-56页
    5.4 本章小结第56-57页
第六章 总结与展望第57-58页
参考文献第58-62页
致谢第62-63页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第63页

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