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扫描干涉光刻中干涉条纹漂移误差分析及抑制

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第11-23页
    1.1 研究工作的意义与背景第11-12页
    1.2 光栅制造误差抑制研究现状第12-21页
        1.2.1 机械刻划法制作光栅及其误差抑制的研究第12-13页
        1.2.2 全息曝光制作光栅方法及其误差抑制研究第13-21页
    1.3 课题研究目的内容及论文结构安排第21-23页
        1.3.1 课题研究目的与内容第21页
        1.3.2 论文结构安排第21-23页
第二章 扫描干涉光刻原理与误差综述第23-37页
    2.1 引言第23页
    2.2 扫描干涉光刻基本原理第23-25页
    2.3 基于零差图像锁定系统的扫描干涉光刻原理方案第25-31页
        2.3.1 零差相位测量原理第26-28页
        2.3.2 声光移频式相位调节原理第28页
        2.3.3 外差光栅位移测量原理第28-31页
    2.4 扫描干涉光刻条纹漂移误差综述第31-33页
        2.4.1 空气环境扰动第31页
        2.4.2 传感器测量误差第31-32页
        2.4.3 曝光路径上光学元件高频振动第32-33页
    2.5 空气折射率波动引起的条纹漂移误差第33-36页
    2.6 本章小节第36-37页
第三章 刚体运动引起的测量误差分析第37-56页
    3.1 引言第37页
    3.2 相位测量框架的刚体运动第37-43页
        3.2.1 相位测量框架平移运动第38-41页
        3.2.2 相位测量框架旋转运动第41-43页
    3.3 位移测量干涉仪模块的刚体运动第43-50页
        3.3.1 光栅干涉仪模块平移运动第43-45页
        3.3.2 光栅干涉仪模块旋转运动第45-50页
    3.4 工件台刚体运动第50-55页
        3.4.1 工件台平移运动第50-51页
        3.4.2 工件台旋转运动第51-55页
    3.5 本章小结第55-56页
第四章 光学元件高频振动引起的条纹漂移误差分析第56-72页
    4.1 引言第56页
    4.2 零差图像锁定系统验证实验装置介绍第56-57页
    4.3 振动直接引入条纹漂移误差的方式概述第57-60页
    4.4 关键元件的振动对条纹漂移误差的影响分析第60-68页
        4.4.1 由反射镜及分光镜旋转振动引起的相位漂移误差第60-61页
        4.4.2 由反射镜及分光镜平移振动引起的相位漂移误差第61-62页
        4.4.3 由PMI平移振动引起的相位漂移测量误差第62-63页
        4.4.4 由声光调制器平移振动引起的相位漂移误差第63-65页
        4.4.5 各元件引起的条纹漂移误差估算第65-68页
    4.5 实验结构弱点分析第68-71页
        4.5.1 单元部件支撑结构第68-70页
        4.5.2 光学面包板柔性变形第70-71页
    4.6 本章小节第71-72页
第五章 图像锁定方案优化及关键实验验证第72-90页
    5.1 引言第72页
    5.2 条纹漂移误差抑制总体方案设计思路第72-73页
    5.3 测量误差优化抑制方案第73-78页
        5.3.1 光栅干涉仪衍射位置优化第74-75页
        5.3.2 双光栅干涉仪位移解算第75-77页
        5.3.3 光栅干涉仪模块与相位测量干涉仪同框架测量第77-78页
    5.4 元件高频振动优化抑制方案第78-81页
        5.4.1 光学结构刚度优化与连接方式选择第78-79页
        5.4.2 光学元件布局优化第79-81页
    5.5 优化实验验证第81-89页
        5.5.1 光栅干涉仪衍射位置优化可行性验证第81-83页
        5.5.2 结构刚度优化可行性验证第83-86页
        5.5.3 光学元件布局优化可行性验证第86-88页
        5.5.4 零差图像锁定系统精度优化结果第88-89页
    5.6 本章小结第89-90页
第六章 全文总结与展望第90-92页
    6.1 全文总结第90-91页
    6.2 后续工作展望第91-92页
致谢第92-93页
参考文献第93-97页

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