PI/SiO2三层复合薄膜结构及电学和热学性能研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第11页 |
| 1.2 聚酰亚胺基复合薄膜研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 聚酰亚胺特性简介 | 第11-12页 |
| 1.2.2 聚酰亚胺复合薄膜性能研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.3 PI/SiO_2复合薄膜研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 论文研究目的及主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 实验材料与测试方法 | 第16-20页 |
| 2.1 实验材料与仪器 | 第16-17页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第16-17页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第17页 |
| 2.2 结构表征 | 第17-18页 |
| 2.2.1 X射线衍射测试 | 第17页 |
| 2.2.2 透射电镜测试 | 第17页 |
| 2.2.3 扫描电镜测试 | 第17页 |
| 2.2.4 红外测试 | 第17-18页 |
| 2.3 性能测试 | 第18-19页 |
| 2.3.1 耐电晕测试 | 第18页 |
| 2.3.2 热失重测试 | 第18-19页 |
| 2.3.3 介电性能测试 | 第19页 |
| 2.3.4 电气强度测试 | 第19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 复合薄膜制备及薄膜表征 | 第20-31页 |
| 3.1 聚酰亚胺合成原理 | 第20页 |
| 3.2 聚酰亚胺制备流程 | 第20-24页 |
| 3.2.1 单层聚酰亚胺制备流程 | 第21-22页 |
| 3.2.2 三层聚酰亚胺制备流程 | 第22-24页 |
| 3.3 纳米颗粒及聚酰亚胺薄膜表征 | 第24-30页 |
| 3.3.1 纳米颗粒的表征 | 第24-25页 |
| 3.3.2 薄膜红外光谱表征 | 第25-27页 |
| 3.3.3 XRD结构表征 | 第27-28页 |
| 3.3.4 复合薄膜表面及断面形貌 | 第28-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 复合薄膜电学性能及热学性能 | 第31-46页 |
| 4.1 薄膜耐电晕老化性能 | 第31-35页 |
| 4.2 薄膜介电性能 | 第35-39页 |
| 4.3 薄膜电气强度 | 第39-41页 |
| 4.4 薄膜热学性能 | 第41-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 结论 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52页 |
