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PI/(BN+Al2O3)纳米复合薄膜介电与热学性能研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-15页
    1.1 课题背景及研究的意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状及分析第11-13页
        1.2.1 聚酰亚胺基复合薄膜的制备方法第11-12页
        1.2.2 聚酰亚胺基复合薄膜的研究现状第12-13页
    1.3 本文主要研究内容第13-15页
第2章 实验材料与测试方法第15-22页
    2.1 实验原料与仪器第15页
        2.1.1 实验材料第15页
        2.1.2 实验仪器第15页
    2.2 结构表征方法第15-16页
        2.2.1 傅里叶变换红外光谱测试(FTIR)第15-16页
        2.2.2 X射线衍射测试(XRD)第16页
        2.2.3 扫描电子显微镜测试(SEM)第16页
        2.2.4 EDS能谱测试第16页
        2.2.5 小角X射线散射测试(SAXS)第16页
    2.3 性能测试方法第16-17页
        2.3.1 介电谱测试第16页
        2.3.2 等温衰减电流测试(IDC)第16页
        2.3.3 光激电流测试(PSD)第16-17页
        2.3.4 电导电流测试第17页
        2.3.5 交流击穿场强测试第17页
        2.3.6 热失重测试(TG)第17页
        2.3.7 耐电晕老化寿命测试第17页
    2.4 纳米颗粒结构与特性第17-19页
        2.4.1 BN结构与特性第17-18页
        2.4.2 Al_2O_3结构与特性第18-19页
    2.5 复合薄膜合成原理第19-20页
    2.6 复合薄膜制备第20-21页
    2.7 本章小结第21-22页
第3章 PI/BN复合薄膜结构表征与性能测试第22-33页
    3.1 复合薄膜结构表征第22-24页
        3.1.1 XRD结构表征第22-23页
        3.1.2 FTIR结构表征第23页
        3.1.3 表面与断面形貌第23-24页
    3.2 复合薄膜性能测试第24-31页
        3.2.1 介电谱第24-26页
        3.2.2 交流击穿场强第26-27页
        3.2.3 热稳定性第27-30页
        3.2.4 耐电晕老化性能第30-31页
    3.3 本章小结第31-33页
第4章 PI/Al_2O_3复合薄膜结构表征与性能测试第33-45页
    4.1 复合薄膜结构表征第33-34页
        4.1.1 FTIR结构表征第33-34页
        4.1.2 XRD结构表征第34页
        4.1.3 表面与断面形貌第34页
    4.2 复合薄膜性能测试第34-44页
        4.2.1 介电谱第34-35页
        4.2.2 等温衰减及光刺激电流测试第35-38页
        4.2.3 电导电流特性第38-40页
        4.2.4 热稳定性第40-41页
        4.2.5 耐电晕老化性能第41-44页
    4.3 本章小结第44-45页
第5章 PI/(BN+Al_2O_3)复合薄膜结构表征与性能测试第45-53页
    5.1 复合薄膜的结构表征第45-49页
        5.1.1 FTIR结构表征第45-46页
        5.1.2 SAXS结构表征第46-49页
    5.2 复合薄膜的性能测试第49-51页
        5.2.1 介电谱第49-50页
        5.2.2 热稳定性第50页
        5.2.3 耐电晕老化性能第50-51页
    5.3 本章小结第51-53页
结论第53-55页
参考文献第55-60页
攻读硕士学位期间所发表的学术论文第60-61页
致谢第61页

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