| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·应用于 3D 测距的图像传感器研究现状及关键技术 | 第8-9页 |
| ·研究意义 | 第9-10页 |
| ·研究内容及论文结构 | 第10-11页 |
| 第二章 TOF 测距方法与图像传感器特性分析 | 第11-31页 |
| ·三角测距法 | 第11-12页 |
| ·TOF 相位测距法 | 第12-16页 |
| ·相位测距法原理 | 第12-13页 |
| ·适用于 CMOS 图像传感器的相位测距法 | 第13-15页 |
| ·系统非线性对相位测距法的影响 | 第15-16页 |
| ·用于 TOF 测距 CMOS 图像传感器特性分析 | 第16-25页 |
| ·CMOS 图像传感器与 CCD 的对比分析 | 第16-19页 |
| ·用于 TOF 测距的 CMOS 图像传感器特性分析 | 第19-21页 |
| ·扩散运动 | 第21-23页 |
| ·漂移运动 | 第23-24页 |
| ·两种传输机制的比较 | 第24-25页 |
| ·用于 TOF 测距的 CMOS 图像传感器特征参数 | 第25-29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第三章 用于 TOF 测距的 CMOS 图像传感器芯片设计 | 第31-51页 |
| ·设计要求 | 第31页 |
| ·像素结构的选择 | 第31-33页 |
| ·4-tap 像素结构 | 第32页 |
| ·1-tap 像素结构 | 第32-33页 |
| ·像素结构设计与工艺条件优化 | 第33-43页 |
| ·像素结构设计 | 第34页 |
| ·工艺条件优化 | 第34-43页 |
| ·整体芯片的设计与读出电路的仿真 | 第43-48页 |
| ·芯片系统架构与设计 | 第43-44页 |
| ·模拟读出电路 | 第44-48页 |
| ·小结 | 第48-51页 |
| 第四章 芯片测试系统的搭建及性能分析 | 第51-63页 |
| ·设计要求和测试方法 | 第51-52页 |
| ·光源的设计 | 第52-57页 |
| ·光源功率的计算 | 第52-54页 |
| ·光源散射角的计算 | 第54-55页 |
| ·LED 阵列光源与激光光源的对比 | 第55-56页 |
| ·设计结果 | 第56-57页 |
| ·测试系统的搭建 | 第57-59页 |
| ·噪声和失调对距离分辨率的影响 | 第59-61页 |
| ·散粒噪声对分辨率的影响 | 第59-60页 |
| ·热噪声对分辨率的影响 | 第60-61页 |
| ·解调振幅和有效失调的影响 | 第61页 |
| ·小结 | 第61-63页 |
| 第五章 总结和展望 | 第63-65页 |
| ·总结 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
