数字集成电路测试生成算法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-28页 |
| ·课题的背景和意义 | 第13-14页 |
| ·测试生成概述 | 第14-20页 |
| ·测试生成原理 | 第14-15页 |
| ·测试生成相关概念 | 第15-18页 |
| ·故障和故障模型 | 第18-19页 |
| ·性能评价指标 | 第19-20页 |
| ·测试生成算法的发展及国内外研究现状 | 第20-25页 |
| ·组合电路测试生成算法的发展及研究现状 | 第20-21页 |
| ·时序电路测试生成算法的发展及研究现状 | 第21-24页 |
| ·测试生成算法分类 | 第24-25页 |
| ·可测性设计的研究现状 | 第25-26页 |
| ·本文主要研究内容 | 第26-28页 |
| 第2章 优化算法理论 | 第28-40页 |
| ·引言 | 第28-29页 |
| ·粒子群优化算法 | 第29-32页 |
| ·基本原理 | 第29-30页 |
| ·进化规则 | 第30页 |
| ·参数分析 | 第30-31页 |
| ·算法实现 | 第31-32页 |
| ·混沌优化 | 第32-34页 |
| ·混沌运动特性 | 第32-33页 |
| ·混沌优化理论 | 第33-34页 |
| ·混沌粒子群算法 | 第34-35页 |
| ·文化算法 | 第35-38页 |
| ·文化算法理论 | 第36-37页 |
| ·文化算法的群体空间和信念空间 | 第37-38页 |
| ·文化粒子群算法 | 第38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第3章 基于模拟的组合电路测试生成 | 第40-65页 |
| ·引言 | 第40-41页 |
| ·故障压缩 | 第41-43页 |
| ·等价压缩 | 第41-42页 |
| ·支配压缩 | 第42页 |
| ·压缩方法的实现 | 第42-43页 |
| ·故障模拟方法 | 第43-46页 |
| ·基于进化算法的组合电路测试生成 | 第46-63页 |
| ·测试生成过程描述 | 第47-50页 |
| ·加速方法 | 第50-51页 |
| ·基于粒子群算法的组合电路测试生成 | 第51-52页 |
| ·基于混沌粒子群算法的组合电路测试生成 | 第52-54页 |
| ·基于文化粒子群算法的组合电路测试生成 | 第54-55页 |
| ·仿真结果及分析 | 第55-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第4章 基于模拟的时序电路测试生成 | 第65-80页 |
| ·引言 | 第65-66页 |
| ·时序电路的初始化研究 | 第66-75页 |
| ·基于进化算法的时序电路逻辑初始化 | 第67-71页 |
| ·仿真结果及分析 | 第71-75页 |
| ·基于模拟的时序电路测试生成 | 第75-79页 |
| ·算法描述 | 第75-78页 |
| ·实验结果及分析 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第5章 电路测试集的静态优化 | 第80-99页 |
| ·引言 | 第80-81页 |
| ·静态优化测试集 | 第81-90页 |
| ·测试矩阵 | 第82-83页 |
| ·基于进化算法的测试集静态优化 | 第83-85页 |
| ·基于粒子群算法的测试集优化 | 第85-86页 |
| ·基于混沌粒子群算法的测试集优化 | 第86-88页 |
| ·基于文化粒子群算法的测试集优化 | 第88-89页 |
| ·应用实例 | 第89-90页 |
| ·仿真结果及分析 | 第90-97页 |
| ·仿真实验1 | 第90-91页 |
| ·仿真实验2 | 第91-94页 |
| ·仿真实验3 | 第94-97页 |
| ·本章小结 | 第97-99页 |
| 第6章 可测性设计方法研究 | 第99-114页 |
| ·引言 | 第99-100页 |
| ·可测性度量 | 第100-103页 |
| ·可测性度量的定义 | 第100-101页 |
| ·SCOAP测度 | 第101-103页 |
| ·可测性设计方法 | 第103-113页 |
| ·组合电路的可测性设计 | 第103-110页 |
| ·时序电路的可测性设计 | 第110-113页 |
| ·本章小结 | 第113-114页 |
| 结论 | 第114-117页 |
| 参考文献 | 第117-130页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第130-131页 |
| 致谢 | 第131页 |
