天线罩数控专用磨床关键控制技术的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| ·论文选题背景及来源 | 第9-11页 |
| ·导弹天线罩概述 | 第9-10页 |
| ·导弹天线罩的发展及研究情况 | 第10-11页 |
| ·课题背景及来源 | 第11页 |
| ·天线罩修磨的必要性和依据 | 第11-13页 |
| ·导弹天线罩数控专用磨床的控制技术 | 第13-16页 |
| ·基于PC的开放式数控系统 | 第13-15页 |
| ·专用修磨机床控制系统的关键技术 | 第15-16页 |
| ·课题研究意义和论文主要研究内容 | 第16-18页 |
| ·课题研究意义 | 第16页 |
| ·论文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 2 天线罩数控专用磨床的控制系统 | 第18-33页 |
| ·一体式双工位的测量与加工 | 第18-19页 |
| ·控制系统的主体结构 | 第19-22页 |
| ·可编程多轴运动控制器PMAC | 第19-20页 |
| ·IPC+PMAC构成的控制系统总体结构 | 第20-22页 |
| ·双CPU之间的数据通讯 | 第22-24页 |
| ·伺服控制系统及其接口单元的设计 | 第24-29页 |
| ·伺服驱动装置 | 第24-26页 |
| ·伺服控制方式 | 第26-27页 |
| ·伺服接口电路与连接设置 | 第27-29页 |
| ·控制面板单元的设计 | 第29-32页 |
| ·控制面板功能 | 第29-30页 |
| ·I／O控制板实现输入输出 | 第30-32页 |
| ·控制系统的电磁兼容和抑制干扰 | 第32-33页 |
| 3 天线罩内廓面的测量过程控制技术 | 第33-44页 |
| ·测量方法的选择 | 第33-36页 |
| ·自由曲面的测量方法 | 第33-35页 |
| ·适合天线罩数控专用磨床的测量方式 | 第35页 |
| ·测头装置的选择 | 第35-36页 |
| ·测量路径及采样点的规划 | 第36-39页 |
| ·测量路径的选择 | 第36-37页 |
| ·测量路径的生成 | 第37-38页 |
| ·采样点自适应分布 | 第38-39页 |
| ·测量数据采集的实现 | 第39-44页 |
| ·PMAC位置捕捉功能 | 第39-40页 |
| ·测量数据的采集 | 第40-44页 |
| 4 系统软件功能实现 | 第44-63页 |
| ·天线罩数控专用磨床软件系统的设计开发方法和技术 | 第44-46页 |
| ·软件设计方法 | 第44-45页 |
| ·系统开发环境和相关技术 | 第45-46页 |
| ·软件系统总体结构和工作过程 | 第46-48页 |
| ·软件系统总体架构和任务划分 | 第46-47页 |
| ·软件的工作过程 | 第47-48页 |
| ·上位人机交互界面(MMI)的设计及其功能 | 第48-52页 |
| ·人机交互界面的实现及原理 | 第48-51页 |
| ·各模块功能介绍 | 第51-52页 |
| ·应用程序与PMAC通讯功能的实现 | 第52-54页 |
| ·PCOMM32 PRO简介 | 第52-53页 |
| ·PMAC与应用程序建立通讯实现各模块功能 | 第53-54页 |
| ·PMAC配置和初始化 | 第54-55页 |
| ·修磨加工控制功能的实现 | 第55-59页 |
| ·修磨加工的执行和实时监控 | 第55-57页 |
| ·数控代码解释程序 | 第57-59页 |
| ·后台PLC管理程序设计 | 第59-63页 |
| ·PLC程序简介 | 第59-60页 |
| ·天线罩数控专用磨床中的PLC程序 | 第60-63页 |
| 5 双工位的校准和机床控制精度的检测与补偿 | 第63-71页 |
| ·双工位的校准调节 | 第63-67页 |
| ·校准装置的设计 | 第63-65页 |
| ·校准原理和方法 | 第65-67页 |
| ·机床控制精度的检测与误差补偿 | 第67-71页 |
| ·机床控制精度检测 | 第67-69页 |
| ·机床精度补偿 | 第69-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 附录A 控制系统电路原理图 | 第76-78页 |
| 附录B 部分MMI程序代码 | 第78-82页 |
| 附录C 天线罩数控专用磨床实物照片 | 第82-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 大连理工大学学位论文版权使用授权书 | 第86页 |
