| 摘要 | 第1-14页 |
| ABSTRACT | 第14-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-37页 |
| ·热电材料的发展历史和研究背景 | 第17-18页 |
| ·热电效应及其应用 | 第18-25页 |
| ·热电效应 | 第18-20页 |
| ·热电器件工作原理 | 第20-22页 |
| ·热电效能分析 | 第22-25页 |
| ·材料的热电优值及其优化 | 第25-28页 |
| ·材料的热电优值 | 第25-26页 |
| ·热电优值的优化 | 第26-28页 |
| ·热电材料的研究进展 | 第28-35页 |
| ·碲化铋基热电材料研究进展 | 第28-32页 |
| ·碲化铅基热电材料研究进展 | 第32-34页 |
| ·热电薄膜的研究进展 | 第34-35页 |
| ·本论文的选题和意义 | 第35-37页 |
| 第二章 量子效应对热电性能的影响 | 第37-58页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·低维材料对热电优值的影响 | 第37-40页 |
| ·载流子输运过程分析 | 第40-46页 |
| ·块体材料内的载流子输运过程分析 | 第40-44页 |
| ·二维结构体系中的载流子输运过程分析 | 第44-46页 |
| ·(Bi_2Te_3/PbTe)_n 纳米多层薄膜的热电性能分析 | 第46-57页 |
| ·电子的经典尺寸效应和量子效应混合效应 | 第50-51页 |
| ·经典尺寸效应对热电性能的影响 | 第51-54页 |
| ·量子效应和经典尺寸效应混合模型 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第三章 薄膜的制备及其结构和性能表征 | 第58-73页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·热电薄膜制备方法 | 第58-61页 |
| ·热电薄膜的制备 | 第61-66页 |
| ·基片的选择和处理 | 第61-62页 |
| ·薄膜的制备 | 第62-66页 |
| ·薄膜的结构和性能表征 | 第66-72页 |
| ·薄膜的成分和结构分析 | 第66-68页 |
| ·薄膜的热电性能测试 | 第68-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第四章 Bi_2Te_3基热电薄膜电学性能研究 | 第73-107页 |
| ·薄膜的成分和结构分析 | 第73-86页 |
| ·薄膜的生长 | 第73-76页 |
| ·单层薄膜的结构分析 | 第76-82页 |
| ·多层膜和纳米复合薄膜的结构分析 | 第82-86页 |
| ·单层Bi_2Te_3 薄膜电学性能研究 | 第86-95页 |
| ·晶态Bi_2Te_3 薄膜电学性能影响因素分析 | 第86-90页 |
| ·非晶态Bi_2Te_3 薄膜电学性能的影响因素分析 | 第90-95页 |
| ·(Bi_2Te_3/PbTe)_n 纳米多层膜电学性能研究 | 第95-102页 |
| ·亚层厚度对(Bi_2Te_3/PbTe)_n 纳米多层膜电学性能的影响 | 第95-98页 |
| ·界面散射对(Bi_2Te_3/PbTe)n 多层膜电学性能的影响 | 第98-99页 |
| ·温度对(Bi_2Te_3/PbTe)_n 多层膜电学性能的影响 | 第99-102页 |
| ·(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 纳米复合薄膜材料的热电性能研究 | 第102-106页 |
| ·颗粒大小与密度对(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 复合薄膜电学性能的影响 | 第103-104页 |
| ·温度对(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 纳米复合薄膜电学性能的影响 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-107页 |
| 第五章 (PbTe)_(np)/Bi_2Te_3纳米复合薄膜的热导率 | 第107-123页 |
| ·引言 | 第107-108页 |
| ·晶格热导率的声子传输机制 | 第108-112页 |
| ·波耳兹曼传输方程 | 第108-110页 |
| ·低维结构的声子热传输 | 第110-112页 |
| ·3ω法测试薄膜热导率 | 第112-115页 |
| ·3ω法测试薄膜热导率原理 | 第112-113页 |
| ·测试试样的制备和薄膜热导率的测试 | 第113-115页 |
| ·(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 纳米复合薄膜热导率分析 | 第115-122页 |
| ·温度对(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 热导率的影响 | 第115-117页 |
| ·PbTe 体积分数对(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 热导率的影响 | 第117-122页 |
| ·本章小结 | 第122-123页 |
| 第六章 (PbTe)_(np)/Bi_2Te_3纳米复合薄膜的ZT 值及其应用模拟 | 第123-135页 |
| ·(PbTe)_(np)/Bi_2Te_3 纳米复合薄膜的ZT 值 | 第123页 |
| ·热电器件的结构设计和效能分析 | 第123-126页 |
| ·热电材料在热红外隐身上的应用模拟 | 第126-134页 |
| ·热电器件在热红外隐身上的应用概念 | 第126-127页 |
| ·温差发电器件的热红外隐身效果分析 | 第127-131页 |
| ·热电制冷器件的热红外隐身效果分析 | 第131-133页 |
| ·热电器件的热红外隐身效果简易验证 | 第133-134页 |
| ·本章小结 | 第134-135页 |
| 第七章 结论与展望 | 第135-138页 |
| ·论文主要结论 | 第135-136页 |
| ·下一步工作展望 | 第136-138页 |
| 附录A Bi_2Te_3/PbTe 界面建模 | 第138-141页 |
| 附录B Seebeck 系数和电导率的测量及精度分析 | 第141-145页 |
| 附录C Bi_2Te_3和PbTe 的XRD 标准卡片 | 第145-147页 |
| 附录D 粗糙界面热电性能计算源程序 | 第147-150页 |
| 参考文献 | 第150-166页 |
| 致谢 | 第166-168页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第168页 |
