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穆勒矩阵椭偏测量系统高级参数问题研究

摘要第4-6页
abstract第6-7页
第1章 绪论第14-26页
    1.1 引言第14-15页
    1.2 椭偏测量系统发展现状第15-22页
        1.2.1 椭偏测量系统研究概况第15-18页
        1.2.2 穆勒矩阵椭偏测量系统发展现状第18-22页
    1.3 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏测量系统高级参数研究现状第22-23页
    1.4 本文主要研究内容第23-26页
第2章 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏测量系统高级参数建模第26-44页
    2.1 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏侧量系统基本原理第26-30页
    2.2 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏测量系统高级参数模型第30-38页
        2.2.1 各光学元件高级参数建模第31-34页
        2.2.2 光源和光谱仪的偏振相关修正第34-36页
        2.2.3 系统退偏修正第36-38页
    2.3 基于系统高级参数模型的基本参数优化配置第38-42页
        2.3.1 条件数法进行基本参数优化配置的原理第38-39页
        2.3.2 基本参数优化配置仿真第39-42页
    2.4 本章小结第42-44页
第3章 基于系统高级参数模型的误差传递分析第44-84页
    3.1 误差来源和分类第44-45页
    3.2 误差传递分析第45-61页
        3.2.1 系统参数误差传递分析第45-60页
        3.2.2 系统随机误差传递分析第60-61页
    3.3 误差传递仿真实验第61-83页
    3.4 本章小结第83-84页
第4章 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏测量系统偏振相关系数测量第84-92页
    4.1 偏振相关系数测量概述第84页
    4.2 偏振相关系数测量方法设计第84-88页
    4.3 实验结果第88-90页
    4.4 本章小结第90-92页
第5章 双旋转补偿器穆勒矩阵椭偏测量系统高级参数标定第92-118页
    5.1 系统高级参数标定流程及主要问题第92-94页
        5.1.1 标定流程第92-93页
        5.1.2 系统参数标定的主要问题第93-94页
    5.2 透镜高级参数标定方法第94-104页
        5.2.1 透镜高级参数模型理论分析第94-96页
        5.2.2 各向异性晶体基底标定透镜高级参数第96-100页
        5.2.3 透镜高级参数标定仿真实验第100-104页
    5.3 系统高级参数标定实验第104-117页
        5.3.1 RCE直通和薄膜样品标定结果第104-108页
        5.3.2 未加聚焦透镜的DRC-MME直通和薄膜样品标定结果第108-112页
        5.3.3 加入聚焦透镜的DRC-MME直通和薄膜样品标定结果第112-116页
        5.3.4 方解石基底标定聚焦透镜等效参数结果第116-117页
    5.4 本章小结第117-118页
第6章 总结与展望第118-122页
    6.1 本文主要研究内容第118-119页
    6.2 本文主要创新点第119页
    6.3 研究展望第119-122页
参考文献第122-130页
致谢第130-132页
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第132页

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