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颗粒测试技术的正则化反演算法

摘要第6-8页
ABSTRACT第8-9页
第一章 绪论第13-29页
    1.1 颗粒测量的意义第13-15页
    1.2 颗粒粒径测量的相关基础知识第15-18页
        1.2.1 单个颗粒的粒径第15-16页
        1.2.2 颗粒粒径分布(PSD)第16-17页
        1.2.3 粒径分布函数第17-18页
    1.3 基于前向光散射的颗粒粒径测量技术第18-21页
        1.3.1 原理介绍第19-20页
        1.3.2 本文数值计算采用的相关条件与参数第20-21页
    1.4 颗粒粒径分布的反演及其发展现状综述第21-26页
        1.4.1 非独立模式算法第21-22页
        1.4.2 独立模式算法第22-26页
    1.5 课题提出与本文工作第26-29页
第二章 单参数正则化方法用于颗粒粒径分布反演第29-46页
    2.1 奇异值分解(SVD)第29-30页
    2.2 截断奇异值(TSVD)法第30-33页
    2.3 Tikhonov正则化第33-36页
    2.4 受非负约束正则化方法第36-43页
        2.4.1 数值模拟第39-42页
        2.4.2 实验验证第42-43页
    2.5 小结第43-46页
第三章 多参数正则化方法用于颗粒粒径分布反演第46-65页
    3.1 多参数正则化综述第46-48页
    3.2 多参数正则化的构建第48-49页
    3.3 构建函数法求解多参数第49-56页
        3.3.1 数值模拟第51-55页
        3.3.2 实验验证第55-56页
    3.4 迭代法法求解多参数第56-64页
        3.4.1 数值模拟第59-62页
        3.4.2 实验验证第62-64页
    3.5 小结第64-65页
第四章 基函数与正则化算法结合在粒径分布反演中的改善第65-75页
    4.1 基函数在前向光散射的应用第66-67页
    4.2 结合基函数的正则化反演第67-73页
        4.2.1 数值模拟第68-71页
        4.2.2 实验验证第71-73页
    4.3 小结第73-75页
第五章 总结与展望第75-78页
    5.1 本文工作总结第75-76页
    5.2 工作展望第76-78页
参考文献第78-82页
在读期间公开发表的论文和承担科研项目及取得成果第82-83页
致谢第83页

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