摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
第一章 绪论 | 第13-29页 |
1.1 颗粒测量的意义 | 第13-15页 |
1.2 颗粒粒径测量的相关基础知识 | 第15-18页 |
1.2.1 单个颗粒的粒径 | 第15-16页 |
1.2.2 颗粒粒径分布(PSD) | 第16-17页 |
1.2.3 粒径分布函数 | 第17-18页 |
1.3 基于前向光散射的颗粒粒径测量技术 | 第18-21页 |
1.3.1 原理介绍 | 第19-20页 |
1.3.2 本文数值计算采用的相关条件与参数 | 第20-21页 |
1.4 颗粒粒径分布的反演及其发展现状综述 | 第21-26页 |
1.4.1 非独立模式算法 | 第21-22页 |
1.4.2 独立模式算法 | 第22-26页 |
1.5 课题提出与本文工作 | 第26-29页 |
第二章 单参数正则化方法用于颗粒粒径分布反演 | 第29-46页 |
2.1 奇异值分解(SVD) | 第29-30页 |
2.2 截断奇异值(TSVD)法 | 第30-33页 |
2.3 Tikhonov正则化 | 第33-36页 |
2.4 受非负约束正则化方法 | 第36-43页 |
2.4.1 数值模拟 | 第39-42页 |
2.4.2 实验验证 | 第42-43页 |
2.5 小结 | 第43-46页 |
第三章 多参数正则化方法用于颗粒粒径分布反演 | 第46-65页 |
3.1 多参数正则化综述 | 第46-48页 |
3.2 多参数正则化的构建 | 第48-49页 |
3.3 构建函数法求解多参数 | 第49-56页 |
3.3.1 数值模拟 | 第51-55页 |
3.3.2 实验验证 | 第55-56页 |
3.4 迭代法法求解多参数 | 第56-64页 |
3.4.1 数值模拟 | 第59-62页 |
3.4.2 实验验证 | 第62-64页 |
3.5 小结 | 第64-65页 |
第四章 基函数与正则化算法结合在粒径分布反演中的改善 | 第65-75页 |
4.1 基函数在前向光散射的应用 | 第66-67页 |
4.2 结合基函数的正则化反演 | 第67-73页 |
4.2.1 数值模拟 | 第68-71页 |
4.2.2 实验验证 | 第71-73页 |
4.3 小结 | 第73-75页 |
第五章 总结与展望 | 第75-78页 |
5.1 本文工作总结 | 第75-76页 |
5.2 工作展望 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
在读期间公开发表的论文和承担科研项目及取得成果 | 第82-83页 |
致谢 | 第83页 |