OTP逻辑阵列电路设计技术研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 背景介绍 | 第10-11页 |
1.2 国内外现状研究及发展态势 | 第11-12页 |
1.3 论文结构与主要工作 | 第12-14页 |
第二章 OTP编程位元设计 | 第14-20页 |
2.1 OTP单元结构及击穿原理 | 第14-17页 |
2.2 OTP编程位元结构设计 | 第17-18页 |
2.3 OTP编程位元工作原理 | 第18-19页 |
2.4 本章小结 | 第19-20页 |
第三章 OTP逻辑阵列电路设计 | 第20-54页 |
3.1 逻辑阵列总体结构设计 | 第20-22页 |
3.2 译码电路结构设计 | 第22-23页 |
3.3 地址锁存电路设计 | 第23-25页 |
3.4 编程电路结构设计 | 第25-35页 |
3.4.1 电压转换电路 | 第26-28页 |
3.4.2 振荡器 | 第28-30页 |
3.4.3 两级电荷泵 | 第30-34页 |
3.4.4 数据仲裁电路 | 第34-35页 |
3.5 读测试电路结构设计 | 第35-47页 |
3.5.1 地址变换检测电路 | 第36-39页 |
3.5.2 脉冲展宽及控制电路设计 | 第39-44页 |
3.5.2.1 脉冲展宽电路 | 第39-43页 |
3.5.2.2 控制信号电路 | 第43-44页 |
3.5.3 灵敏放大器及特殊锁存器电路设计 | 第44-47页 |
3.6 逻辑阵列功能实现电路设计 | 第47-53页 |
3.6.1 查找表电路 | 第48-49页 |
3.6.2 逻辑实现原理 | 第49-53页 |
3.7 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 版图实现设计及仿真验证 | 第54-60页 |
4.1 版图整体布局 | 第54-55页 |
4.2 整体布线 | 第55-56页 |
4.3 版图验证 | 第56-57页 |
4.4 后仿真检查验证 | 第57-59页 |
4.5 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 芯片测试 | 第60-71页 |
5.1 芯片测试平台 | 第61-63页 |
5.1.1 编程及回读测试平台 | 第61-62页 |
5.1.2 逻辑实现测试平台 | 第62-63页 |
5.2 功能测试 | 第63-70页 |
5.3 本章小结 | 第70-71页 |
第六章 结论 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-75页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第75-76页 |