| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第14-15页 |
| 1.2 软错误的物理模型 | 第15-19页 |
| 1.2.1 粒子辐射的来源 | 第15-16页 |
| 1.2.2 软错误产生机制 | 第16-18页 |
| 1.2.3 软错误故障类型 | 第18-19页 |
| 1.3 软错误率评估方法 | 第19-21页 |
| 1.4 论文主要内容与章节安排 | 第21-22页 |
| 第二章 目标电路OR1200处理器架构简介 | 第22-28页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 OR1200处理器优势 | 第22-23页 |
| 2.3 OR1200处理器结构 | 第23-26页 |
| 2.4 系统结构 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 OR1200处理器的SYSTEMC建模与验证 | 第28-39页 |
| 3.1 引言 | 第28页 |
| 3.2 SystemC语言 | 第28-30页 |
| 3.3 系统SystemC建模 | 第30-34页 |
| 3.4 系统验证 | 第34-37页 |
| 3.5 内存文件生成 | 第37-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 仿真故障注入平台 | 第39-47页 |
| 4.1 引言 | 第39页 |
| 4.2 故障注入点 | 第39-41页 |
| 4.3 仿真故障注入平台 | 第41-45页 |
| 4.4 仿真故障注入加速策略 | 第45-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 OR1200处理器ESL模型的软错误敏感度分析 | 第47-56页 |
| 5.1 引言 | 第47页 |
| 5.2 软错误敏感度指标 | 第47-49页 |
| 5.3 统计策略 | 第49-51页 |
| 5.4 结果分析 | 第51-55页 |
| 5.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 结束语 | 第56-58页 |
| 6.1 总结 | 第56-57页 |
| 6.2 展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第62页 |