基于多信号特征模拟电路可测性分析与故障诊断
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 现有方法的不足 | 第13页 |
| 1.4 本文的内容与结构 | 第13-16页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4.2 本文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 模拟电路可测性指标分析 | 第16-32页 |
| 2.1 基于多特征故障字典的可测性指标计算方法 | 第16-24页 |
| 2.1.1 整数编码 | 第16-17页 |
| 2.1.2 分析流程 | 第17-19页 |
| 2.1.3 指标计算 | 第19-20页 |
| 2.1.4 特征与阈值向量 | 第20-22页 |
| 2.1.5 实验验证 | 第22-24页 |
| 2.2 基于多特征模型可测性指标计算方法 | 第24-31页 |
| 2.2.1 过程分析与指标计算 | 第24-26页 |
| 2.2.2 实验验证与对比实验 | 第26-28页 |
| 2.2.3 容差和参数问题 | 第28-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 带容差模拟电路的模糊组获取与故障诊断 | 第32-63页 |
| 3.1 基于时域特征的模糊组获取方法 | 第32-50页 |
| 3.1.1 特征优选 | 第32-35页 |
| 3.1.2 分析流程 | 第35-37页 |
| 3.1.3 容差问题 | 第37-39页 |
| 3.1.4 特征矩阵和阈值矩阵 | 第39-40页 |
| 3.1.5 不能检测到的器件 | 第40-41页 |
| 3.1.6 模糊组 | 第41-44页 |
| 3.1.7 实验与对比实验 | 第44-50页 |
| 3.2 基于频域特征的模糊组获取方法 | 第50-59页 |
| 3.2.1 基本知识 | 第50页 |
| 3.2.2 特征选择与实验 | 第50-59页 |
| 3.3 故障诊断 | 第59-62页 |
| 3.3.1 诊断流程 | 第59-61页 |
| 3.3.2 实验验证 | 第61-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第四章 模拟电路可测性软件设计 | 第63-71页 |
| 4.1 方法选择 | 第64-65页 |
| 4.2 数据采集模块 | 第65-66页 |
| 4.3 数据处理和存储 | 第66-67页 |
| 4.4 结果显示 | 第67-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 主要贡献 | 第71-72页 |
| 5.2 工作展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
