| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第12-14页 |
| 1.1.1 温度定量研究发展历程 | 第12-13页 |
| 1.1.2 市场需求和研究意义 | 第13-14页 |
| 1.2 集成温度传感器的研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 | 第17-18页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 低功耗单片集成温度传感器 | 第20-32页 |
| 2.1 集成温度传感器的类型 | 第20-22页 |
| 2.1.1 电压域集成温度传感器 | 第20-21页 |
| 2.1.2 时域集成温度传感器 | 第21-22页 |
| 2.2 集成温度传感器的性能指标 | 第22-28页 |
| 2.2.1 集成温度传感器的精度 | 第23-25页 |
| 2.2.2 集成温度传感器的误差 | 第25-26页 |
| 2.2.3 集成温度传感器的功耗和转换速率 | 第26-27页 |
| 2.2.4 集成温度传感器各性能参数间的制约 | 第27-28页 |
| 2.3 低功耗单片集成温度传感器 | 第28-31页 |
| 2.3.1 低功耗单片集成温度传感器的系统架构 | 第28-30页 |
| 2.3.2 低功耗单片集成温度传感器的系统指标 | 第30-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于MOSFET亚阈区泄漏电流补偿技术的温度感应电路 | 第32-53页 |
| 3.1 基于传统自偏置电流源结构的温度感应电路 | 第33-41页 |
| 3.1.1 MOSFET亚阈区泄漏电流的温度特性分析 | 第33-36页 |
| 3.1.2 基于传统自偏置电流源结构的温度感应电路的设计 | 第36-38页 |
| 3.1.3 基于传统自偏置电流源结构的温度感应电路的仿真 | 第38-41页 |
| 3.2 基于DTMOS的有源电阻式温度感应电路 | 第41-52页 |
| 3.2.1 有源电阻的温度特性分析 | 第42-43页 |
| 3.2.2 基于DTMOS的有源电阻式温度感应电路的设计 | 第43-46页 |
| 3.2.3 基于DTMOS的有源电阻式温度感应电路的仿真与测试 | 第46-52页 |
| 3.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 对PVT变化不敏感的张弛振荡电路 | 第53-105页 |
| 4.1 基于降低失调影响的低噪声带隙基准源的张弛振荡器 | 第53-74页 |
| 4.1.1 降低失调影响的低噪声带隙基准电路 | 第55-70页 |
| 4.1.1.1 单元电路的失调分析 | 第55-59页 |
| 4.1.1.2 降低失调影响的低噪声带隙基准电路的设计 | 第59-64页 |
| 4.1.1.3 降低失调影响的低噪声带隙基准电路的仿真与测试 | 第64-70页 |
| 4.1.2 基于降低失调影响的低噪声带隙基准源的张弛振荡器及其仿真 | 第70-74页 |
| 4.2 基于动态阈值技术和开关电阻技术的张弛振荡器 | 第74-103页 |
| 4.2.1 动态阈值技术和开关电阻技术原理 | 第75-80页 |
| 4.2.1.1 动态阈值技术 | 第75-77页 |
| 4.2.1.2 开关电阻技术 | 第77-80页 |
| 4.2.2 张弛振荡器中的非理想因素分析 | 第80-97页 |
| 4.2.2.1 比较器的非理想因素分析与电路设计 | 第80-87页 |
| 4.2.2.2 开关的非理想因素分析与抑制 | 第87-91页 |
| 4.2.2.3 电阻的非理想因素分析与抑制 | 第91-97页 |
| 4.2.3 基于动态阈值技术和开关电阻技术的张弛振荡器的仿真与测试 | 第97-103页 |
| 4.3 本章小结 | 第103-105页 |
| 第五章 基于时域量化的低功耗单片集成温度传感器及其测试 | 第105-119页 |
| 5.1 低功耗单片集成温度传感器的模块电路优化 | 第106-113页 |
| 5.2 基于时域量化的低功耗单片集成温度传感器的仿真与测试 | 第113-117页 |
| 5.3 本章小结 | 第117-119页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第119-122页 |
| 6.1 全文总结 | 第119-120页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122-123页 |
| 参考文献 | 第123-139页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第139-140页 |
