| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外现状 | 第16-17页 |
| 1.3 研究内容及成果 | 第17页 |
| 1.4 论文结构与内容 | 第17-19页 |
| 第二章 射频识别技术自主标准与TTO模式 | 第19-31页 |
| 2.1 射频识别系统工作原理 | 第19-20页 |
| 2.2 射频识别技术自主标准解析 | 第20-27页 |
| 2.3 TTO模式解析 | 第27-28页 |
| 2.4 TTO模式应用到射频识别技术自主标准的可行性研究 | 第28-30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 第三章 兼容TTO模式的自主标准标签芯片基带设计 | 第31-49页 |
| 3.1 标签芯片基带的系统框架设计 | 第31-35页 |
| 3.2 标签芯片基带时钟组成 | 第35-36页 |
| 3.3 TTO模式与正常模式的切换机制 | 第36页 |
| 3.4 随机数生成算法及其随机性验证 | 第36-44页 |
| 3.4.1 特定种子和特定时钟移位算法 | 第37-38页 |
| 3.4.2 标签数据CRC16作为种子的控制式移位算法 | 第38-40页 |
| 3.4.3 混沌随机数生成算法 | 第40-42页 |
| 3.4.4 随机数随机性的验证 | 第42-44页 |
| 3.5 复位与低功耗设计 | 第44-48页 |
| 3.5.1 复位信号的处理 | 第44-45页 |
| 3.5.2 同步逻辑与异步逻辑 | 第45-46页 |
| 3.5.3 低功耗设计 | 第46-48页 |
| 3.6 小结 | 第48-49页 |
| 第四章 兼容TTO模式的自主标准标签芯片基带实现与验证 | 第49-69页 |
| 4.1 标签芯片基带的前仿真 | 第49-53页 |
| 4.1.1 TTO模式验证 | 第49-51页 |
| 4.1.2 自主标准一致性验证 | 第51-53页 |
| 4.2 综合与功耗分析 | 第53-57页 |
| 4.3 标签芯片基带的FPGA验证 | 第57-66页 |
| 4.4 基于Astro的标签芯片物理设计 | 第66-68页 |
| 4.5 小结 | 第68-69页 |
| 第五章 总结 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简介 | 第75-76页 |
