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集成滤光微结构的InGaAs短波红外探测器

致谢第1-5页
摘要第5-7页
ABSTRACT第7-11页
1 引言第11-33页
   ·短波红外探测的目的和意义第11-12页
   ·短波红外探测器及其发展趋势第12-16页
     ·1.7μm InGaAs FPA第13-14页
     ·可见-InGaAs FPA第14页
     ·2.6μm InGaAs FPA第14-15页
     ·InSb FPA第15页
     ·HgCdTe第15-16页
   ·InGaAs短波红外焦平面探测器的研究进展第16-23页
     ·InGaAs探测器第16-19页
     ·0.9-1.7μm波段的InGaAs探测器研究情况第19-20页
     ·InGaAs可见/短波红外探测器研究进展第20-21页
     ·长波方向InGaAs红外探测器研究进展第21页
     ·InGaAs短波红外焦平面器件发展趋势第21-23页
   ·新型多谱段InGaAs探测器片上集成技术第23-28页
     ·片上集成滤光微结构的意义第23页
     ·集成滤光片的多谱段探测器研究进展第23-28页
       ·国外研究现状第23-27页
       ·国内研究现状第27-28页
     ·片上集成滤光微结构的技术难点第28页
   ·本论文的研究目的和主要内容第28-29页
 参考文献第29-33页
2 平面型InGaAs探测器工艺第33-60页
   ·引言第33-34页
   ·平面型InGaAs探测器关键工艺研究第34-47页
     ·实验样品与工艺参数第34-35页
     ·钝化对器件性能影响研究第35-42页
       ·钝化机理研究第35-36页
       ·扩散掩膜对器件性能影响研究第36-41页
       ·第二次钝化对器件性能影响研究第41-42页
     ·扩散结深对器件性能影响研究第42-47页
       ·实验第42-43页
       ·测试结果以及性能表征第43-47页
   ·材料结构参数与探测器性能的理论分析与实验研究第47-51页
     ·不同材料结构参数的器件的量子效率分析第47-50页
     ·掺杂浓度和结深与器件量子效率和暗电流的实验研究第50-51页
   ·512×128 InGaAs近红外探测器研究第51-56页
     ·探测器芯片制备与测试第51-53页
     ·512×128焦平面性能及实验室成像第53-56页
   ·本章小结第56-57页
 参考文献第57-60页
3 近红外InGaAs探测器电容特性研究第60-80页
   ·引言第60页
   ·探测器电容理论分析第60-63页
   ·InGaAs探测器C-V特性研究第63-70页
   ·基于子像元模式的探测器电容分析第70-74页
   ·探测器电容对焦平面噪声的影响第74-78页
   ·本章小结第78-79页
 参考文献第79-80页
4 滤光膜及集成滤光膜器件的研制与性能研究第80-96页
   ·引言第80页
   ·滤光微结构的设计第80-82页
   ·滤光微结构的制备以及性能表征第82-88页
   ·集成滤光膜器件性能分析第88-94页
     ·滤光膜制备工艺对器件性能影响分析第88-92页
     ·集成双波段器件性能分析第92-94页
   ·本章小结第94-95页
 参考文献第95-96页
5 滤光膜的环境适应性机理研究第96-108页
   ·引言第96-97页
   ·退火对滤光膜性能研究第97-102页
     ·实验第97-98页
     ·退火前后表面形貌变化及理论分析第98-100页
     ·退火后滤光膜光学性能变化及分析第100-102页
   ·温度烘烤对滤光膜性能影响研究第102-104页
     ·实验第102-103页
     ·结果表征与讨论第103-104页
   ·湿度对滤光膜性能影响研究第104-106页
     ·实验第104-105页
     ·结果表征与讨论第105-106页
   ·本章小结第106-107页
 参考文献第107-108页
6 全文总结与展望第108-111页
   ·全文总结第108-109页
   ·展望第109-111页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第111页

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