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数字电路冗余故障检测方法研究及实验分析

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第1章 绪论第11-16页
   ·数字电路测试技术发展状况第11-12页
   ·几种主要的测试技术第12-15页
   ·冗余故障检测方法的发展状况第15页
   ·本文主要工作第15-16页
第2章 数字电路测试相关知识第16-29页
   ·几种最常见的故障模型第16-19页
   ·测试产生技术第19-26页
   ·故障模拟的基本概念及算法第26-27页
   ·小结第27-29页
第3章 冗余故障检测方法及算法研究第29-38页
   ·引言第29页
   ·冗余故障第29-30页
   ·冗余故障检测方法第30-31页
   ·冗余故障测试产生算法第31-37页
   ·小结第37-38页
第4章 PSPISE 仿真介绍及仿真结果分析第38-44页
   ·ORCAD PSPICE 电路仿真工具介绍第38-39页
   ·仿真步骤第39-40页
   ·仿真结果及分析第40-43页
   ·小结第43-44页
第5章 瞬态电流测试实验分析第44-51页
   ·芯片及工具介绍第44-46页
   ·实验方案第46-47页
   ·实验结果及分析第47-50页
   ·下一步工作展望第50页
   ·小结第50-51页
结论第51-52页
参考文献第52-56页
附录A 攻读硕士期间发表的论文第56-57页
致谢第57页

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