数字电路冗余故障检测方法研究及实验分析
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第1章 绪论 | 第11-16页 |
·数字电路测试技术发展状况 | 第11-12页 |
·几种主要的测试技术 | 第12-15页 |
·冗余故障检测方法的发展状况 | 第15页 |
·本文主要工作 | 第15-16页 |
第2章 数字电路测试相关知识 | 第16-29页 |
·几种最常见的故障模型 | 第16-19页 |
·测试产生技术 | 第19-26页 |
·故障模拟的基本概念及算法 | 第26-27页 |
·小结 | 第27-29页 |
第3章 冗余故障检测方法及算法研究 | 第29-38页 |
·引言 | 第29页 |
·冗余故障 | 第29-30页 |
·冗余故障检测方法 | 第30-31页 |
·冗余故障测试产生算法 | 第31-37页 |
·小结 | 第37-38页 |
第4章 PSPISE 仿真介绍及仿真结果分析 | 第38-44页 |
·ORCAD PSPICE 电路仿真工具介绍 | 第38-39页 |
·仿真步骤 | 第39-40页 |
·仿真结果及分析 | 第40-43页 |
·小结 | 第43-44页 |
第5章 瞬态电流测试实验分析 | 第44-51页 |
·芯片及工具介绍 | 第44-46页 |
·实验方案 | 第46-47页 |
·实验结果及分析 | 第47-50页 |
·下一步工作展望 | 第50页 |
·小结 | 第50-51页 |
结论 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-56页 |
附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第56-57页 |
致谢 | 第57页 |