基于MSP430的质子旋进磁力仪设计
| 内容提要 | 第1-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-10页 |
| ·课题研究的意义和应用前景 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第8-9页 |
| ·论文主要研究内容 | 第9-10页 |
| 第二章 质子旋进磁力仪原理与总体方案设计 | 第10-18页 |
| ·质子旋进方法测磁原理 | 第10-12页 |
| ·质子旋进磁力仪工作原理 | 第12-13页 |
| ·质子旋进磁力仪总体设计方案 | 第13-15页 |
| ·拉莫尔信号采集与放大的关键技术 | 第15-16页 |
| ·磁化控制技术 | 第15页 |
| ·拉莫尔信号采集与放大技术 | 第15-16页 |
| ·拉莫尔频率测量技术 | 第16-17页 |
| ·信号整型 | 第16页 |
| ·频率测量设计 | 第16-17页 |
| ·系统总体控制部分 | 第17-18页 |
| 第三章 拉莫尔信号采集与放大设计 | 第18-36页 |
| ·磁化控制电路 | 第18-19页 |
| ·前置放大电路 | 第19-22页 |
| ·前放器件的主要性能参数 | 第19-21页 |
| ·前置放大电路硬件设计 | 第21-22页 |
| ·开关电容滤波电路 | 第22-27页 |
| ·滤波器的选择与设计 | 第22-23页 |
| ·滤波芯片 MF10 的特性 | 第23-26页 |
| ·开关电容滤波器硬件设计 | 第26-27页 |
| ·频率控制电路 | 第27-31页 |
| ·AD9850 的主要性能指标 | 第28-30页 |
| ·AD9850 的功能简介 | 第30-31页 |
| ·频率控制硬件设计 | 第31页 |
| ·压控可变增益放大电路 | 第31-36页 |
| ·AD603 的特点 | 第32-33页 |
| ·AD603 的特性 | 第33-34页 |
| ·压控可变增益控制电路硬件设计 | 第34-36页 |
| 第四章 拉莫尔频率测量设计 | 第36-48页 |
| ·拉莫尔信号整型 | 第36-37页 |
| ·信号整形原理 | 第36-37页 |
| ·硬件电路设计 | 第37页 |
| ·拉莫尔频率测量电路设计 | 第37-48页 |
| ·EPM7064 主要特点 | 第38-42页 |
| ·集成开发工具 Quartus II | 第42-43页 |
| ·Verilog HDL 硬件描述语言 | 第43-44页 |
| ·CPLD 测频原理 | 第44-45页 |
| ·CPLD 内部测频实现 | 第45-48页 |
| 第五章 系统控制部分设计 | 第48-60页 |
| ·系统微处理器结构功能 | 第48-54页 |
| ·MSP430F149 单片机特点 | 第48-50页 |
| ·MSP430F149 部分功能模块 | 第50-52页 |
| ·控制电路硬件框图 | 第52-54页 |
| ·外围功能电路设计 | 第54-60页 |
| ·显示功能设计 | 第54-56页 |
| ·键盘功能设计 | 第56-57页 |
| ·串行通讯功能设计 | 第57-60页 |
| 第六章 程序设计 | 第60-66页 |
| ·系统主程序设计 | 第61-62页 |
| ·AD9850 控制程序设计 | 第62页 |
| ·液晶显示控制程序设计 | 第62-63页 |
| ·键盘电路控制程序设计 | 第63-64页 |
| ·软件抗干扰 | 第64-66页 |
| 第七章 系统测试与结果分析 | 第66-75页 |
| ·测试仪器介绍 | 第66页 |
| ·测试方法与测试结果 | 第66-74页 |
| ·AD9850 的输出频率的测试 | 第66-67页 |
| ·增益测试 | 第67-68页 |
| ·通带测试 | 第68页 |
| ·信号整形测试 | 第68-70页 |
| ·测频电路仿真 | 第70-71页 |
| ·实验室内测试效果与分析 | 第71-74页 |
| ·实验结论 | 第74-75页 |
| 第八章 全文总结 | 第75-76页 |
| ·主要工作及成果 | 第75页 |
| ·今后工作的建议 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 摘要 | 第79-81页 |
| ABSTRACT | 第81-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
