| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·半导体器件测试设备的国内外技术现状 | 第9页 |
| ·现场总线技术的发展现状 | 第9-11页 |
| ·课题的研究意义 | 第11页 |
| ·课题的主要任务和内容 | 第11-13页 |
| 第二章 半导体放电管分选测试系统方案研究与分析 | 第13-19页 |
| ·半导体放电管测试标准分析 | 第13-15页 |
| ·半导体放电管绝缘电阻的技术要求及测试方法 | 第13页 |
| ·半导体放电管转折电压的技术要求及测试方法 | 第13-14页 |
| ·不动作电压的技术要求及测试方法 | 第14-15页 |
| ·半导体放电管的分选方法 | 第15页 |
| ·半导体放电管分选测试系统的设计思路与总体结构分析 | 第15-17页 |
| ·现场总线系统的技术优势 | 第16-17页 |
| ·模块化的设计思路 | 第17页 |
| ·半导体放电管分选测试系统总体结构 | 第17-19页 |
| 第三章 控制主板硬件设计及其分选控制功能实现 | 第19-30页 |
| ·分选测试系统机械部分的结构 | 第19-20页 |
| ·控制主板的结构 | 第20-29页 |
| ·控制主板逻辑控制以及分选功能的实现 | 第20-24页 |
| ·CAN总线通信接口 | 第24-27页 |
| ·看门狗定时器 | 第27-29页 |
| ·控制主板调试 | 第29-30页 |
| 第四章 转折电压测试板硬件设计 | 第30-41页 |
| ·线性测试电压产生 | 第30-34页 |
| ·产生测试电压的电路原理 | 第31页 |
| ·测试电压的具体实现 | 第31-34页 |
| ·峰值保持电路 | 第34-36页 |
| ·峰值保持电路原理分析 | 第34页 |
| ·峰值保持的实现电路 | 第34-36页 |
| ·测试数据采集 | 第36-39页 |
| ·TLC2543 串行A/D转换器 | 第36页 |
| ·TLC2543 的时序 | 第36-38页 |
| ·TLC2543 软件编程 | 第38-39页 |
| ·半导体放电管转折电压测试 | 第39-41页 |
| 第五章 半导体放电管分选测试系统软件设计 | 第41-48页 |
| ·上位机程序 | 第41-44页 |
| ·上位机程序界面 | 第42-43页 |
| ·上位机程序的工作流程 | 第43页 |
| ·CSerial串口通信类 | 第43-44页 |
| ·串口通信的规约 | 第44页 |
| ·控制主板软件设计 | 第44-48页 |
| ·控制主板软件初始化 | 第45页 |
| ·主板逻辑控制功能的软件实现 | 第45-46页 |
| ·半导体放电管测试数据处理 | 第46-47页 |
| ·半导体放电管分选的程序流程 | 第47-48页 |
| 第六章 CAN总线应用层通信协议 | 第48-62页 |
| ·CANopen协议 | 第48-51页 |
| ·CANopen的对象字典 | 第48-49页 |
| ·CANopen的通信模式 | 第49-51页 |
| ·DEVICENET协议 | 第51-54页 |
| ·DeviceNet的物理层和数据链路层 | 第51-52页 |
| ·DeviceNet的网络通信 | 第52-53页 |
| ·DeviceNet的对象模型 | 第53-54页 |
| ·半导体放电管分选测试系统的DeviceNet通信 | 第54-62页 |
| ·分选测试系统CAN网络通信分析 | 第54-55页 |
| ·DeviceNet通信节点的软件设计 | 第55-62页 |
| 第七章 论文总结和项目展望 | 第62-64页 |
| ·论文总结 | 第62页 |
| ·项目展望 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第67-68页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第68页 |