基于uPSD3234单片机的氚表面污染测量仪的研制
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-4页 |
目录 | 第4-6页 |
第1章 前言 | 第6-8页 |
·研究现状 | 第6页 |
·课题研究的目的与意义 | 第6-7页 |
·研究内容 | 第7页 |
·研究成果 | 第7-8页 |
第2章 系统设计方案 | 第8-15页 |
·硬件设计方案 | 第9-13页 |
·探测器 | 第9-10页 |
·系统核心部件—u2PSD3234单片机 | 第10-11页 |
·电源解决方案 | 第11-13页 |
·软件设计方案 | 第13-15页 |
·系统软件的组成 | 第13-14页 |
·软件开发语言与开发环境的选择 | 第14-15页 |
第3章 硬件设计 | 第15-32页 |
·uPSD3234单片机 | 第15-19页 |
·单片机内部结构 | 第15-16页 |
·单片机的引脚与功能 | 第16-19页 |
·信号采集模块 | 第19-23页 |
·放大整形电路 | 第19-20页 |
·上下阈值甄别电路 | 第20-21页 |
·脉冲选择与展宽电路 | 第21-23页 |
·按键模块 | 第23-25页 |
·时钟模块 | 第25-26页 |
·接口电路 | 第26-28页 |
·JTAG接口 | 第26-27页 |
·USB接口 | 第27-28页 |
·液晶模块 | 第28-29页 |
·高压电源调节模块 | 第29-32页 |
·X9111的特点和引脚说明 | 第30-31页 |
·X9111的工作原理 | 第31-32页 |
第4章 软件设计 | 第32-50页 |
·软件开发语言与开发环境 | 第32-33页 |
·开发语言 | 第32页 |
·开发环境 | 第32-33页 |
·软件构成 | 第33-50页 |
·主程序 | 第33-34页 |
·子程序模块 | 第34-50页 |
第5章 仪器性能测试与主要技术 | 第50-55页 |
·系统性能测试 | 第50-54页 |
·坪曲线测试 | 第50-51页 |
·仪器计数正确性检查 | 第51-53页 |
·仪器本底计数率 | 第53页 |
·仪器最小探测限 | 第53-54页 |
·仪器稳定性测试 | 第54页 |
·仪器主要技术指标 | 第54-55页 |
结论 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57页 |