基于嵌入式系统技术的桩基础检测仪的研制
第1章 绪论 | 第1-14页 |
·引言 | 第10页 |
·桩基检测技术的发展及国内外研究现状 | 第10-11页 |
·论文的研究目标和解决的问题 | 第11-12页 |
·论文研究的主要内容及结构 | 第12-14页 |
·论文研究内容 | 第12-13页 |
·论文结构 | 第13-14页 |
第2章 桩基础测试仪的系统结构 | 第14-19页 |
·桩基础检测技术 | 第14-15页 |
·桩基础检测的方法 | 第14页 |
·低应变反射波法检测原理 | 第14-15页 |
·系统实现方案 | 第15-18页 |
·系统硬件平台 | 第16-17页 |
·系统软件平台 | 第17-18页 |
·系统性能要求 | 第18-19页 |
第3章 硬件设计 | 第19-46页 |
·采集单元设计 | 第20-38页 |
·模拟信号采集部分 | 第21-29页 |
·数字电路部分 | 第29-38页 |
·PCB板设计的注意事项 | 第38页 |
·处理单元设计 | 第38-46页 |
·嵌入式处理器部分MCU | 第38-46页 |
第4章 软件设计 | 第46-71页 |
·ARM公共开发平台的搭建 | 第46-55页 |
·系统的初始化 | 第46-53页 |
·目标系统的实现 | 第53-55页 |
·应用程序 | 第55-71页 |
·应用主程序 | 第55-56页 |
·人机界面程序 | 第56-61页 |
·ARM对数据采集单元的控制 | 第61-62页 |
·采集数据处理程序 | 第62-71页 |
第5章 实验调试与测试分析 | 第71-79页 |
·实验的调试设备 | 第71页 |
·系统装置 | 第71-72页 |
·采集单元硬件调试 | 第72-75页 |
·采样保持器的零偏调节和测试 | 第72页 |
·放大器部分的调节 | 第72-73页 |
·10位ADC的调试 | 第73页 |
·12位ADC的双极性调节 | 第73-74页 |
·调试存储器SRAM与CPLD和MCU的总线接口 | 第74-75页 |
·采集单元的硬件整体调试 | 第75-77页 |
·软件测试 | 第77-78页 |
·中断测试 | 第77页 |
·LCD和TSP测试 | 第77-78页 |
·性能指标 | 第78-79页 |
结论 | 第79-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-85页 |
附录 系统电路图 | 第85-93页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第93页 |