第一章 绪论 | 第1-21页 |
·惯性约束聚变驱动系统概述 | 第10-13页 |
·惯性约束核聚变简介 | 第10-11页 |
·ICF驱动系统简介 | 第11-13页 |
·ICF系统中的光学元件 | 第13-15页 |
·国内外研究现状及本论文的主要研究工作 | 第15-18页 |
·国内外研究现状 | 第15-17页 |
·本论文的主要研究工作 | 第17-18页 |
参考文献 | 第18-21页 |
第二章 光学元件对ICF驱动系统波前畸变的影响及其检测方法 | 第21-39页 |
·光学元件加工误差对波前畸变的主要影响 | 第21-23页 |
·现代波前检测对波前畸变的划分 | 第21-23页 |
·小尺度自聚焦对ICF系统的影响 | 第23页 |
·强激光系统中小尺度自聚焦的性质及分析方法 | 第23-31页 |
·B-T理论及其在高功率激光系统分析中的应用 | 第24-29页 |
·ICF系统中介质增益的小尺度调制分析 | 第29-31页 |
·光学元件表面检测的主要方法 | 第31-36页 |
·现代干涉仪检测技术简介 | 第32-35页 |
·表面轮廓仪检测技术简介 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-38页 |
参考文献 | 第38-39页 |
第三章 大口径光学元件波前功率谱密度(PSD)分析 | 第39-62页 |
·PSD的引入及其数值计算方法 | 第40-45页 |
·将PSD引入光学波前检测的背景 | 第40页 |
·PSD的定义 | 第40-41页 |
·PSD的数值计算方法 | 第41-45页 |
·使用PSD对国内大口径干涉仪的传递函数进行标定 | 第45-48页 |
·传递函数的的重要性及其定义 | 第45-46页 |
·利用PSD标定检测仪器传递函数的方法及国内大型干涉仪传函标定结果 | 第46-48页 |
·大口径光学元件检测过程中的主要误差及其影响 | 第48-52页 |
·由光学元件放置引入的低频误差 | 第49-51页 |
·由干涉条纹引入的高频误差的影响 | 第51-52页 |
·大口径元件对波前的调制及其PSD分析 | 第52-55页 |
·典型ICF元件的PSD检测及分析结果 | 第55-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-62页 |
第四章 ICF系统光学元件的波前相位梯度分析 | 第62-75页 |
·波前相位梯度的定义及其计算方法 | 第62-65页 |
·波前相位梯度用于光学波前检测的意义 | 第62页 |
·波前相位梯度的定义 | 第62-65页 |
·波前相位梯度的数值计算方法 | 第65-68页 |
·典型ICF元件的波前相位梯度检测及分析结果 | 第68-71页 |
·波前相位梯度与光束聚焦性能之间的关系 | 第71-72页 |
·本章小结 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-75页 |
第五章 子孔径拼接干涉检测技术研究 | 第75-100页 |
·传统干涉检测的局限性和子孔径拼接方法的提出背景 | 第75-76页 |
·子孔径拼接干涉检测的基本原理 | 第76-83页 |
·子孔径拼接干涉检测的原理模型 | 第76-78页 |
·应用最小二乘法进行拼接运算的过程 | 第78-83页 |
·子孔径拼接检测的精度分析 | 第83-89页 |
·一般使用的比较分析方法 | 第83-84页 |
·用数理统计理论及线性回归分析方法 | 第84-86页 |
·将数理统计理论用于子孔径拼接精度分析 | 第86-88页 |
·多孔径拼接精度的分析 | 第88-89页 |
·子孔径拼接干涉检测实验平台的设计 | 第89-91页 |
·子孔径拼接干涉检测实验研究 | 第91-97页 |
·调节平台稳定性检测实验 | 第91-94页 |
·子孔径拼接检测系统精度分析实验 | 第94-95页 |
·子孔径拼接检测实验 | 第95-97页 |
·本章小结 | 第97-98页 |
参考文献 | 第98-100页 |
第六章 ICF系统光学元件精密检测软件的设计 | 第100-109页 |
·软件的功能框图 | 第100-103页 |
·检测软件中的一些特殊问题 | 第103-107页 |
·调色板的设计 | 第103-104页 |
·位图数据处理 | 第104-105页 |
·图像去倾斜处理 | 第105-107页 |
·有待进一步扩展的功能 | 第107-108页 |
参考文献 | 第108-109页 |
第七章 总结 | 第109-113页 |
致谢 | 第113-114页 |
附录 | 第114-117页 |