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ICF系统光学元件高精度波前检测技术研究

第一章 绪论第1-21页
   ·惯性约束聚变驱动系统概述第10-13页
     ·惯性约束核聚变简介第10-11页
     ·ICF驱动系统简介第11-13页
   ·ICF系统中的光学元件第13-15页
   ·国内外研究现状及本论文的主要研究工作第15-18页
     ·国内外研究现状第15-17页
     ·本论文的主要研究工作第17-18页
 参考文献第18-21页
第二章 光学元件对ICF驱动系统波前畸变的影响及其检测方法第21-39页
   ·光学元件加工误差对波前畸变的主要影响第21-23页
     ·现代波前检测对波前畸变的划分第21-23页
     ·小尺度自聚焦对ICF系统的影响第23页
   ·强激光系统中小尺度自聚焦的性质及分析方法第23-31页
     ·B-T理论及其在高功率激光系统分析中的应用第24-29页
     ·ICF系统中介质增益的小尺度调制分析第29-31页
   ·光学元件表面检测的主要方法第31-36页
     ·现代干涉仪检测技术简介第32-35页
     ·表面轮廓仪检测技术简介第35-36页
   ·本章小结第36-38页
 参考文献第38-39页
第三章 大口径光学元件波前功率谱密度(PSD)分析第39-62页
   ·PSD的引入及其数值计算方法第40-45页
     ·将PSD引入光学波前检测的背景第40页
     ·PSD的定义第40-41页
     ·PSD的数值计算方法第41-45页
   ·使用PSD对国内大口径干涉仪的传递函数进行标定第45-48页
     ·传递函数的的重要性及其定义第45-46页
     ·利用PSD标定检测仪器传递函数的方法及国内大型干涉仪传函标定结果第46-48页
   ·大口径光学元件检测过程中的主要误差及其影响第48-52页
     ·由光学元件放置引入的低频误差第49-51页
     ·由干涉条纹引入的高频误差的影响第51-52页
   ·大口径元件对波前的调制及其PSD分析第52-55页
   ·典型ICF元件的PSD检测及分析结果第55-59页
   ·本章小结第59-60页
 参考文献第60-62页
第四章 ICF系统光学元件的波前相位梯度分析第62-75页
   ·波前相位梯度的定义及其计算方法第62-65页
     ·波前相位梯度用于光学波前检测的意义第62页
     ·波前相位梯度的定义第62-65页
   ·波前相位梯度的数值计算方法第65-68页
   ·典型ICF元件的波前相位梯度检测及分析结果第68-71页
   ·波前相位梯度与光束聚焦性能之间的关系第71-72页
   ·本章小结第72-74页
 参考文献第74-75页
第五章 子孔径拼接干涉检测技术研究第75-100页
   ·传统干涉检测的局限性和子孔径拼接方法的提出背景第75-76页
   ·子孔径拼接干涉检测的基本原理第76-83页
     ·子孔径拼接干涉检测的原理模型第76-78页
     ·应用最小二乘法进行拼接运算的过程第78-83页
   ·子孔径拼接检测的精度分析第83-89页
     ·一般使用的比较分析方法第83-84页
     ·用数理统计理论及线性回归分析方法第84-86页
     ·将数理统计理论用于子孔径拼接精度分析第86-88页
     ·多孔径拼接精度的分析第88-89页
   ·子孔径拼接干涉检测实验平台的设计第89-91页
   ·子孔径拼接干涉检测实验研究第91-97页
     ·调节平台稳定性检测实验第91-94页
     ·子孔径拼接检测系统精度分析实验第94-95页
     ·子孔径拼接检测实验第95-97页
   ·本章小结第97-98页
 参考文献第98-100页
第六章 ICF系统光学元件精密检测软件的设计第100-109页
   ·软件的功能框图第100-103页
   ·检测软件中的一些特殊问题第103-107页
     ·调色板的设计第103-104页
     ·位图数据处理第104-105页
     ·图像去倾斜处理第105-107页
   ·有待进一步扩展的功能第107-108页
 参考文献第108-109页
第七章 总结第109-113页
致谢第113-114页
附录第114-117页

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