首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--数字电路论文

FPGA芯片测试方法研究

摘要第1-3页
Abstract第3-6页
1.引言第6-10页
     ·研究背景第6-8页
     ·工作重点第8页
     ·论文组织第8-10页
2.FPGA互连测试技术综述第10-32页
     ·FPGA互连与测试第10-12页
     ·互连资源的测试第12-23页
     ·在线测试第23-26页
     ·其他测试方法第26-28页
     ·FPGA测试相关内容第28-31页
     ·本章小结第31-32页
3.FPGA互连开路测试算法第32-43页
     ·FPGA布线实现第32-38页
     ·FPGA互连开路测试算法实现第38-42页
     ·本章小结第42-43页
4.FPGA测试实例-FPGA-1第43-53页
     ·FPGA-1芯片介绍第43-46页
     ·芯片结构及布线资源图表示第46-48页
     ·测试结果及应用第48-52页
     ·本章小结第52-53页
5.FPGA互连完备测试算法第53-65页
     ·完备测试配置条件第53-54页
     ·算法实现第54-61页
     ·实验结果第61-64页
     ·本章小结第64-65页
6.总结与展望第65-66页
     ·工作总结第65页
     ·今后工作展望第65-66页
参考文献第66-68页
致谢第68-69页

论文共69页,点击 下载论文
上一篇:改进的用于FPGA的数字锁相环电路设计
下一篇:掺氮氧化硅栅介质对0.13um CMOS器件1/f噪声特性影响的研究