| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 核壳纳米线 | 第8-12页 |
| 1.2.1 核壳纳米材料的基本概念 | 第8-9页 |
| 1.2.2 核壳纳米材料的制备方法 | 第9-10页 |
| 1.2.3 核壳纳米材料的应用 | 第10-12页 |
| 1.3 NiO基核壳纳米线电致电阻效应 | 第12-17页 |
| 1.3.1 NiO结构与性质 | 第12-13页 |
| 1.3.2 电致电阻效应简介 | 第13页 |
| 1.3.3 电致电阻分类及作用机理 | 第13-15页 |
| 1.3.4 NiO基电致电阻效应的研究进展 | 第15-17页 |
| 1.4 课题研究内容与研究意义 | 第17-18页 |
| 第2章 实验部分 | 第18-23页 |
| 2.1 实验原料与仪器 | 第18-19页 |
| 2.2 滴加法制备Ni纳米线 | 第19-21页 |
| 2.3 高温氧化法制备Ni/NiO核壳纳米线 | 第21页 |
| 2.4 Ni/NiO核壳纳米线的结构表征 | 第21-23页 |
| 第3章 Ni/NiO核壳纳米线的结构与性能分析 | 第23-35页 |
| 3.1 实验结果及分析 | 第23-26页 |
| 3.1.1 Ni纳米线的表征与分析 | 第23-24页 |
| 3.1.2 Ni/NiO核壳纳米线的表征与分析 | 第24-26页 |
| 3.2 退火温度对Ni/NiO核壳纳米线结构与性能的影响 | 第26-34页 |
| 3.2.1 Ni纳米线氧化机理分析 | 第26-27页 |
| 3.2.2 退火温度对Ni/NiO核壳纳米线表面形貌的影响 | 第27-29页 |
| 3.2.3 退火温度下Ni/NiO纳米线晶体结构分析 | 第29-30页 |
| 3.2.4 退火温度对Ni/NiO核壳纳米线Raman特性的影响 | 第30-32页 |
| 3.2.5 退火温度对Ni/NiO核壳纳米线磁学及回收特性的影响 | 第32-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 单根Ni/NiO核壳纳米线器件电学性能测量及分析 | 第35-40页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 实验部分 | 第35-38页 |
| 4.2.1 单根Ni/NiO核壳纳米线阻变器件的制备 | 第35-36页 |
| 4.2.2 单根Ni/NiO核壳纳米线器件制备过程中存在的问题 | 第36-37页 |
| 4.2.3 单根Ni/NiO核壳纳米线阻变器件的表征与分析 | 第37-38页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第38-39页 |
| 4.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第5章 结论与展望 | 第40-42页 |
| 5.1 结论 | 第40页 |
| 5.2 展望 | 第40-42页 |
| 参考文献 | 第42-47页 |
| 攻读硕士学位期间完成的学术论文 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
