一种SD卡自动测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 研究内容与取得的成果 | 第16-18页 |
| 1.3.1 论文的主要工作 | 第16-17页 |
| 1.3.2 关键技术 | 第17页 |
| 1.3.3 论文取得的成果 | 第17-18页 |
| 1.3.4 创新点 | 第18页 |
| 1.4 论文结构 | 第18-19页 |
| 2 SD卡工作原理和故障分析 | 第19-31页 |
| 2.1 SD卡的结构分析 | 第19-21页 |
| 2.1.1 接口分析 | 第19-20页 |
| 2.1.2 内部结构分析 | 第20-21页 |
| 2.2 SD卡的工作模式 | 第21-23页 |
| 2.2.1 SD模式 | 第21-22页 |
| 2.2.2 SPI模式 | 第22-23页 |
| 2.3 SD卡工作时序 | 第23-26页 |
| 2.3.1 指令及响应时序 | 第24页 |
| 2.3.2 读数据时序 | 第24-25页 |
| 2.3.3 写数据时序 | 第25-26页 |
| 2.4 故障分析 | 第26-30页 |
| 2.4.1 固定故障 | 第26-27页 |
| 2.4.2 转换故障 | 第27页 |
| 2.4.3 桥接故障 | 第27-29页 |
| 2.4.4 耦合故障 | 第29-30页 |
| 2.4.5 寻址故障 | 第30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 测试需求和设计方案分析 | 第31-44页 |
| 3.1 系统功能需求分析 | 第31-36页 |
| 3.2 测试系统关键技术 | 第36-41页 |
| 3.2.1 March算法 | 第36-37页 |
| 3.2.2 通过PCIe接口实现的高速读写模块 | 第37-38页 |
| 3.2.3 改变测试方式提高测试效率 | 第38-40页 |
| 3.2.4 测试机自动异常恢复模块 | 第40-41页 |
| 3.3 SD卡测试系统设计方案 | 第41-43页 |
| 3.3.1 测试系统硬件设计方案 | 第41-42页 |
| 3.3.2 测试系统软件设计方案 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 4 测试系统硬件设计 | 第44-50页 |
| 4.1 测试机硬件系统 | 第44页 |
| 4.2 测试系统硬件架构设计 | 第44-47页 |
| 4.2.1 测试机的总体架构 | 第45页 |
| 4.2.2 网络架构 | 第45-46页 |
| 4.2.3 USB连接图 | 第46页 |
| 4.2.4 测试主板测试信号图 | 第46-47页 |
| 4.3 测试机的基本单元 | 第47-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 5 测试系统软件的设计 | 第50-79页 |
| 5.1 测试平台软件架构 | 第50页 |
| 5.2 界面设计 | 第50-56页 |
| 5.2.1 控制端界面设计 | 第50-54页 |
| 5.2.2 客户端界面设计 | 第54-56页 |
| 5.3 SD测试模块设计 | 第56-62页 |
| 5.3.1 接触测试模块 | 第56-59页 |
| 5.3.2 启动测试模块 | 第59页 |
| 5.3.3 卡识别测试模块 | 第59页 |
| 5.3.4 传输模式测试模块 | 第59-60页 |
| 5.3.5 自动测试模块 | 第60-62页 |
| 5.4 分料机的控制 | 第62-68页 |
| 5.4.1 分料机通信设计 | 第62-65页 |
| 5.4.2 GPIB的配置 | 第65-66页 |
| 5.4.3 GPIB通信部分实现 | 第66-68页 |
| 5.5 测试机的自动恢复 | 第68-75页 |
| 5.5.1 客户端的自动恢复 | 第68-71页 |
| 5.5.2 测试读卡器的自动恢复 | 第71-72页 |
| 5.5.3 分料机自动恢复 | 第72页 |
| 5.5.4 等待测试状态 | 第72-73页 |
| 5.5.5 测试过程自动恢复实现 | 第73-75页 |
| 5.6 数据库的设计 | 第75-78页 |
| 5.6.1 数据库表的设计 | 第75-77页 |
| 5.6.2 数据库表的实现 | 第77-78页 |
| 5.7 本章小结 | 第78-79页 |
| 6 测试系统的测试和验证 | 第79-83页 |
| 6.1 测试系统测试目标 | 第79页 |
| 6.2 测试环境及测试工具 | 第79-80页 |
| 6.3 系统测试内容 | 第80-81页 |
| 6.4 测试系统的测试和验证 | 第81-82页 |
| 6.5 分料机部分的测试和验证 | 第82页 |
| 6.6 本章小结 | 第82-83页 |
| 7 结论 | 第83-85页 |
| 7.1 工作总结 | 第83-84页 |
| 7.2 下一步工作展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 附录 | 第87-97页 |
| 致谢 | 第97-98页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的学术论文 | 第98-100页 |
