| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第16-34页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-20页 |
| 1.2 研究现状 | 第20-28页 |
| 1.2.1 幅度型磁通门传感器的发展现状 | 第21-24页 |
| 1.2.2 时间差型磁通门传感器的发展现状 | 第24-28页 |
| 1.3 主要问题及研究意义 | 第28-30页 |
| 1.4 研究内容及结构安排 | 第30-34页 |
| 1.4.1 研究内容及思路 | 第30-31页 |
| 1.4.2 论文结构安排 | 第31-34页 |
| 第2章 时间差型磁通门传感器模型研究与组成结构 | 第34-54页 |
| 2.1 时间差型磁通门传感器工作机理 | 第34-39页 |
| 2.1.1 敏感单元磁芯双稳态特性 | 第34-36页 |
| 2.1.2 敏感单元磁芯磁滞特性 | 第36-37页 |
| 2.1.3 时间差型磁通门传感器检测原理 | 第37-39页 |
| 2.2 正弦波及三角波激励传感器模型研究 | 第39-45页 |
| 2.2.1 正弦波激励下的输出模型 | 第39-41页 |
| 2.2.2 三角波激励下的输出模型 | 第41-45页 |
| 2.3 梯形波激励传感器模型研究 | 第45-49页 |
| 2.4 时间差型磁通门传感器组成结构及噪声来源 | 第49-52页 |
| 2.4.1 时间差型磁通门传感器组成结构 | 第49-51页 |
| 2.4.2 时间差型磁通门传感器噪声来源 | 第51-52页 |
| 2.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第3章 敏感单元磁芯巴克豪森噪声特征研究 | 第54-72页 |
| 3.1 敏感单元磁芯噪声产生机理 | 第54-56页 |
| 3.1.1 敏感单元磁芯的磁化过程 | 第54-55页 |
| 3.1.2 磁芯巴克豪森跳跃产生机理 | 第55-56页 |
| 3.2 巴克豪森噪声特征及模型构建 | 第56-64页 |
| 3.2.1 巴克豪森跳跃与外部磁场的关系 | 第56-59页 |
| 3.2.2 巴克豪森噪声与磁滞回线的关系 | 第59页 |
| 3.2.3 磁滞回线模型比较 | 第59-62页 |
| 3.2.4 巴克豪森噪声模型构建及仿真 | 第62-64页 |
| 3.3 巴克豪森噪声对时间差读取影响 | 第64-71页 |
| 3.3.1 巴克豪森噪声分离方法 | 第64-67页 |
| 3.3.2 噪声分离效果评价 | 第67-68页 |
| 3.3.3 噪声对时间差稳定性影响 | 第68-71页 |
| 3.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 第4章 时间差读取技术研究 | 第72-90页 |
| 4.1 BMSTD读取技术稳定性分析 | 第72-73页 |
| 4.2 NMST读取技术输出模型研究 | 第73-77页 |
| 4.2.1 NMST读取技术输出模型建立 | 第74-76页 |
| 4.2.2 NMST读取技术稳定性分析 | 第76-77页 |
| 4.3 NMST读取技术实验研究 | 第77-83页 |
| 4.3.1 NMST读取技术有效性实验 | 第78-82页 |
| 4.3.2 NMST读取技术稳定性实验 | 第82-83页 |
| 4.4 时间差处理算法研究 | 第83-88页 |
| 4.4.1 基于变系数拉依达准则的时间差处理方法 | 第83-84页 |
| 4.4.2 基于等权端点平滑的时间差处理方法 | 第84-86页 |
| 4.4.3 基于变系数判别-等权端点平滑的时间差处理算法 | 第86-88页 |
| 4.5 本章小结 | 第88-90页 |
| 第5章 低噪声时间差型磁通门传感器研制 | 第90-106页 |
| 5.1 时间差型磁通门传感器系统总体设计 | 第90-92页 |
| 5.1.1 系统的硬件设计方案 | 第90-91页 |
| 5.1.2 系统的软件开发流程 | 第91-92页 |
| 5.2 时间差型磁通门低噪声敏感单元研制 | 第92-98页 |
| 5.2.1 磁芯材料选取及性能比较 | 第92-96页 |
| 5.2.2 敏感单元磁芯尺寸优化 | 第96页 |
| 5.2.3 敏感单元绕组方式选择 | 第96-98页 |
| 5.3 时间差型磁通门低噪声检测电路研制 | 第98-104页 |
| 5.3.1 激励信号发生器设计 | 第98-100页 |
| 5.3.2 感应信号处理电路设计 | 第100-103页 |
| 5.3.3 时间差读取及处理电路设计 | 第103-104页 |
| 5.4 本章小结 | 第104-106页 |
| 第6章 时间差型磁通门传感器性能测试及分析 | 第106-124页 |
| 6.1 时间差型磁通门传感器测试条件 | 第106-111页 |
| 6.1.1 测试环境 | 第106-107页 |
| 6.1.2 标准被测磁场的产生 | 第107-109页 |
| 6.1.3 传感器外壳设计 | 第109-110页 |
| 6.1.4 测试仪器 | 第110-111页 |
| 6.2 激励波形与参数对比测试 | 第111-119页 |
| 6.2.1 不同激励波形比较 | 第111-117页 |
| 6.2.2 不同激励电流比较 | 第117-118页 |
| 6.2.3 不同激励频率比较 | 第118-119页 |
| 6.3 传感器静态性能测试及分析 | 第119-123页 |
| 6.3.1 灵敏度及线性度 | 第120页 |
| 6.3.2 精度及噪声水平 | 第120-123页 |
| 6.4 本章小结 | 第123-124页 |
| 第7章 总结与展望 | 第124-128页 |
| 7.1 全文总结 | 第124-125页 |
| 7.2 创新点 | 第125-126页 |
| 7.3 后续工作展望 | 第126-128页 |
| 参考文献 | 第128-140页 |
| 作者简介及攻读博士期间科研成果 | 第140-142页 |
| 致谢 | 第142页 |